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LED電子顯微鏡CE認證激光雕刻機LVD安全認證MD機械指令

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LED燈具CE認證檢測,為各國產品在歐洲市場進行貿易提供了統一的技術規范,簡化了貿易程序。任何國家的產品要進入歐盟、歐洲自由貿易區必須進行CE認證,在產品上加貼CE標志。因此CE認證是產品進入歐盟及歐洲貿易自由區國家市場的通行證。CE認證表示產品已經達到了歐盟指令規定的安全要求;是企業對消費者的一種承諾,增加了消費者對產品的信任程度;貼有CE標志的產品將降低在歐洲市場上銷售的風險,特別提示,CE認證必須在歐盟授權的公告機構辦理。這些風險包括:

  · 被海關扣留和查處的風險;

  · 被市場監督機構查處的風險;

  · 被同行出于競爭目的的指控風險。

  CE認證檢測之LED燈具

  LED燈具CE認證檢測項目(燈具產品都是一樣的標準)主要檢測點有以下五個方面:EMC-EN55015、EMC-EN61547、LVD-EN60598、如果是帶整流器的LVD一般都做EN61347,EN61000-3-2/-3(測試諧波)。

  CE是由EMC(電磁兼容)+LVD(低電壓指令)組成。EMC又包括EMI(干擾)+EMC(抗干擾),LVD通俗來講也就是SAFETY安全,一般低壓產品AC小于50V,DC小于75V可以不做LVD項目。低壓產品就只用測試EMC,出CE-EMC證書,高壓產品需要測試EMC與LVD,出兩份證書與報告CE-EMC CE-LVD。

  EMC(電池兼容)--EMC測試標準(EN55015,EN61547),測試項目包括以下幾個方面:1.radiation輻射 2.conduction傳導3.SD靜電4.CS傳導抗干擾5.RS輻射抗干擾6. EFT脈沖。

  LVD(低電壓指令)—LVD測試標準(EN60598),測試項目包括以下幾個方面:1.故障(試驗)2.撞擊3.震動4.沖擊5.電氣間隙6.爬電距離7.電擊8.發熱9.過載10.溫升測試。

CE是代表該產品已符合歐洲的安全/健康/環保/衛生等系列的標準及指令的標記。在歐盟市場上銷售的所有產品都要強制性做CE的認證。

 

該公司產品分類: 認證服務

美國EXTECH MC200數字式電子顯微鏡,MC200

 美國EXTECH MC200數字式電子顯微鏡,MC200美國EXTECH MC200數字式電子顯微鏡(帶相機功能)●產品特征:·LED顯示,亮度和對比度可調·內置比例尺,可以測量長度和高度·5圖像效果模式:正常,灰色,倒轉,浮雕模式,雙視窗·雙視窗同時顯示原始圖像放大圖像·通過USB電纜,可與相機和電視或電腦連接·捕獲的視頻和JPEG圖像通過附帶的2G microSD卡可以傳送到電腦·通過USB電纜進行充電·標準附件:NP120 3.7V可充電鋰離子電池,RCA視頻線,2G microSD記憶卡,Windows兼容電腦軟件與迷你USB電纜,清潔布,腕帶,AC適配器·外形尺寸:129×67×28mm·重量:160g ●規格:放大倍數 : 1x~200x, 變焦范圍 : 光學變焦:1x~10x(連續)和40x;數字變焦:5x

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該公司產品分類: 水文儀器 皂膜流量計 接地電阻測試儀 相位檢序表 電流電壓表 回路電阻測試儀 驗電筆 絕緣電阻測試儀(兆歐表) 毫歐表|微歐計 示波表 功率表 待電功率測試儀 電力諧波分析儀 鉗形表 LCR數字電橋 萬用表 太陽能功率表 負離子檢測儀 粒子計數器PM2.5檢測儀 熱指數儀,黑球溫度計

JCM-6000系列掃描電子顯微鏡 日本電子 JEOL

  • 小型臺式掃描電子顯微鏡能進行生物樣品和材料樣品的自動設置
  • 提高和擴大了實驗室內的光學顯微鏡或掃描電子顯微鏡儀器的分辨率和景深
  • 無需變更透鏡,能放大10X – 60,000X的倍率預先設定方案的自動和手動控制
  • 高真空和低真空模式對導體和非導體樣品無需進行如涂層和干燥等特殊的樣品處理準備
  • 二次電子和背散射電子成像
  • 三種可選的加速電壓
  • 從載樣到成像的操作可在三分鐘內完成易于掌握和操作

10~60000放大倍率、適合各類樣品分析

JCM-5000 放大倍率 10~40000倍

較光學顯微鏡有更好的景深

JCM5000

光學顯微鏡景深不足在500 倍時僅有局部區遇有清析的影像視野。

同樣500倍放大倍率下JCM-6000有較優越的分辨率與景深,全視野都非常清晰。

 

JCM5000 擁有良好景深
JCM6000擁有良好景深,方便樣品觀察與分析

可直接進行2D量測、包括長度與角度

JCM5000

可觀查成份像(左:PCB成份影像 右:電子零件立體影像)

JCM5000

全新的觸摸屏GUI界面操作更加形象直觀,不僅操作界面簡明易懂,觸摸式操作更加直觀方便。

JCM6000

雙畫面顯示可以并列顯示實時圖像和儲存圖像。 能一邊比較圖像一邊進行觀察。

JCM6000

 

JCM-6000 規格

放大倍數 ×10 ∼ ×60,000 (二次電子) ×10 ∼ ×30,000 (背散射電子)
觀察模式 高真空模式 / 低真空模式
電子槍 燈絲與韋氏帽集成一體的小型電子槍 ( filament and Wehnelt integrated grid)
加速電圧 15kV / 10kV / 5kV 3檔切換 (二次電子) 15kV / 10kV 2檔切換 (背散射電子)
樣品臺 X-Y軸手動控制 X方向 35mm、Y方向 35mm
最大樣品尺寸 直徑70mm、高度50mm
工作距離 (WD) 7~53mm
信號檢測 高真空(二次電子、背散射電子)、低真空(背散射電子)
數據顯示/ 顯示內容 加速電圧、倍率、微米條、微米值等
文件格式 BMP、TIFF、JPEG
圖像內存像素 640x480像素、1280x960像素
拍攝條件 高速、低速1、低速2
旋轉功能 掃描旋轉(90°/步、1°/步可選)
圖像電位移 電位移功能
圖像保存 拍攝(掃描)結束后,能自動編號、自動保存文件。
操作系統 OS Windows 7
自動功能 自動聚焦、自動消像散 自動襯度/亮度、 自動電子槍對中
配置 主機、電源箱、PC、LCD、機械泵
操作 觸摸屏、鼠標
選配件 馬達驅動傾斜/旋轉樣品架、能譜儀(EDS)
主機 330(W)×490(D)×430mm(H)
輸入電源 單相AC100V(700VA)、120V(840VA)、220V(880VA)、240V(960VA) 波動±10%以內、接地
室溫 15℃~30℃
濕度 60%以下

該公司產品分類: 掃描電鏡

形貌分析-多功能電子顯微鏡(TEM-SEM)

         多功能電子顯微鏡(electron microscope)是利用電子與物質作用所產生之訊號來監定微區域晶體結構,微細組織,化學成份,化學鍵結和電子分布情況的電子光學裝置。常用的有透射電子顯微鏡(TEM)和掃描電子顯微鏡(SEM)。與光學顯微鏡相比電子顯微鏡用電子束代替了可見光,用電磁透鏡代替了光學透鏡并使用熒光屏將肉眼不可見電子束成像

多功能電子顯微鏡將常見的TEM、SEM、STEM、ED四種模式結合在一起,用戶可根據樣品分析需要進行隨意切換。

產品簡介:加拿大小型多功能電鏡LVEM5

功能特點:

Delong America公司推出的新一代電子顯微鏡LVEM5,采用革命性新技術,尺寸較傳統電鏡縮小了90%,是世界上最小的透射電鏡。同時集成了掃描電鏡功能,是世界上第一臺多功能電子顯微鏡。

1、體積與光學顯微鏡相仿,價格便宜,操作簡便

2、透射電鏡(TEM)、電子衍射(ED)、掃描電鏡(SEM)、掃描透射電鏡(STEM)四種成像模式

3、場發射電子槍:高亮度、高對比度

4、5kV低加速電壓,有效提高輕元素樣品成像質量觀測生物樣品無需染色

5、真空封鎖技術,更換樣品僅需3分鐘

6、無需冷卻水,無需專業實驗室,維護成本極低

該公司產品分類: 表面微區分析 應力分析 缺陷分析 形貌分析 結構分析 成分分析 元素分析

掃描電子顯微鏡(SEM)圖像系統改造

掃描電子顯微鏡(SEM)圖像系統改造 硬件: 

1.原裝美國國家儀器公司圖像采集板,支持PCI總線標準(2.2版),其總線數據度可 32位,頻率為33MHz,傳輸速率132Mb/S;支持的數據管理結構,包括兩路 DMA引擎,可編程的目標和源數據傳輸模式 ,以及PCI消息功能,即插即用。 

2.SEM圖像接口及電纜 

掃描電子顯微鏡(SEM)圖像系統改造 功能: 

1.主動式數字掃描系統,可實時調整掃描速度,亮度和對比度等。

 2.可選擇全屏掃描和區域掃描。 

3.采集速度:4120μS多種點逗留方式。 

4.采集圖像分辨率:64648bit1281288bit2562568bit 5125128bit 102410248bit 

圖像處理及分析軟件: 

1.圖像顯示方式:標準窗口匹配,圖像縮放,處理區域選擇,同屏顯示原始圖像及處 理后的結果。 

2.圖像標記:放大倍數、加速電壓輸入,彩色中西文字編輯,測量μ標尺顯示。

 3.圖像增強:a.亮度、對比度調節。b.圖像平滑。c.圖像銳化。d.邊緣提取。

 4.域值分割:a.二值分割:建立二值圖像。b.彩色分割:將圖像不同的灰度區域設置 成不同的顏色,以偽彩色的方式顯示出來。 

5.形態學變換:a.二值圖像處理及編輯:灰度形態學變換,包括:腐蝕、膨脹、開運 算、閉運算。b.圖像細化。 

6.灰度圖像的偽彩色變換:將灰度圖像設置成某種顏色顯示和存儲。 

7.灰度值方圖顯示 

8.粒度分析:對圖像中的顆粒進行重心、面積、周長、圓形度、長軸、短軸計算和部 分參數直方圖顯示、存儲、打印。 

9.圖像存儲和輸出:多種格式圖像存儲,圖像格式轉換,圖像打印、拷貝。 

 

相關產品鏈接:

  • ELEGRE 國產能譜儀
  • 1型掃描電聲顯微鏡(SEAM)
  • ETD-200小型金離子濺射儀
  • 掃描電子顯微鏡(SEM)圖像系統改造

 

該公司產品分類: 掃描探針顯微鏡SPM(原子力顯微鏡AFM、掃描隧道顯微鏡STM) 鍍膜機 離子濺射儀

15JE測量顯微鏡 電子顯微鏡報價

 15JE測量顯微鏡 電子顯微鏡報價15JE測量顯微鏡 電子顯微鏡【產品用途】:

15J型測量顯微鏡是光學計量儀器種,它的結構簡單,操作方便,適用范圍廣,主要用途如下: 

1.用作觀察顯微鏡,以比較檢查工作表面光潔度,鑒定冶金工業的礦石標本。檢定印刷照相制版,檢驗紡織纖維等. 

2.采用數顯手輪,讀數測量方便,快捷。

3.直角座標中測定長度,例如測定孔距,基面距離,刻線距離,刻線寬度,鍵槽

寬度,狹縫寬度,通孔圓直徑等等。 

4.轉動度盤測定角度,例如對刻度盤,樣板、量規,鉆孔模板及幾何形狀復雜的零件進行角度測量。 

【技術參數】:

物 鏡

目 鏡

顯微鏡  放大倍數

工作距離  (毫米)

視場直徑  (毫米)

放大倍數

焦距(毫米)

放大倍數

焦距(毫米)

2.5X

43.40

10X

25.00

25X

58.84

5.6

10X

17.13

100X

7.81

1.4

主要規格】:

x軸移動測量范圍: 50毫米 

y軸移動測量范圍: 13毫米 

測微器分度值: 0.01毫米 

測量臺轉動范圍: 不限 

測量臺刻度盤分度范圍: 0° - 360° 

測量臺刻度盤分度值: 1° 

測量臺刻度盤游標讀數示值: 6' 

照明方式:反射光(自然光)

測量精度:儀器值誤差(5+L/15)微米 

示值誤差:包括測量誤差與儀器系統誤差。 

注:測量地點溫度變化(20 ± 3)C;L—被測件長度(毫米) 

儀器主要尺寸: 測量臺與物鏡間大距離:80毫米 

測量工作臺直徑: 120毫米 

外形尺寸:  高325*長262*寬220毫米 

重量級: 約10.6公斤 

顯微鏡的目鏡管同棱鏡成為體繞垂軸旋轉,顯微鏡可由調焦手輪進行上下調焦 

 

選購件】:

1.目鏡:20X 

2.物鏡:4X,5X,20X,40X查看更多顯微鏡產品請進入:www.dookings.com

上海旦鼎www.dookings.com國際化站式采購平臺,運行商為上海旦鼎國際貿易有限公司,坐落于上海繁華的金橋國際商務區。本公司以公平的價格體系向客戶平價銷售實驗室科研設備、施工現場監測設備、生物器材、耗材試劑等產品。上海旦鼎國際貿易有限公司實力雄厚,重信用、守合同、保證產品質量,以多品種經營特色和薄利多銷的原則,贏得了廣大客戶的信任。

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該公司產品分類: 旋轉蒸發儀 恒溫金屬浴 酶標儀 色差儀|色譜儀 水分測定儀 sbp產品 高壓氣體基因槍 基因槍 紫外交聯儀 細胞融合儀 洗地機 硬度計 潔凈工作臺 輻射檢測儀 分子雜交儀 酶標儀|洗板機 黃曲霉毒素檢測儀 電導率儀 水質檢測儀|水質測定儀 重金屬檢測儀

SSX-550型掃描電子顯微鏡

→SEM部 二次電子圖像分辨率 3.5nm 倍率 ×20~300,00→EDX部 分辨率 144eV 可檢測元素 C~U

LJ-DZX01電子顯微鏡

*       本儀器性能可靠,操作簡單,使用方便,且外形美觀,不僅可作教學示范,生物解剖,作觀察分析,由于本顯微鏡具有很高的分辨率及大視場范圍的清晰度,因此還可作電子工業和精密機械工業零件裝配和檢驗,農業上的種子檢查等。
*       LJ-DZF系列放大顯微鏡是將精銳的光學顯微鏡技術、先進的光電轉換技術、成熟的電視機/電腦成像技術完美地結合在一起而開發研制成功的一項高科技產品。從而,我們可以對微觀領域的研究從傳統的普通的雙眼觀察到通過顯示器來再現,實現了人視覺到機器視覺的轉變和定性檢查到定量檢查的轉變,極大的提高了工作效率,克服了人為檢測的不確定性.
*        
該公司產品分類: 物理光學放大顯微鏡 電子光學放大顯微鏡 視覺檢測儀

S-3400N供應蘇州日立S-3400N掃描電子顯微鏡

S­-3400N掃描電子顯微鏡

S-3400N具有最新開發的電子光學系統,強大的自動化功能,操作更簡易。

 

特點:

 

1. S-3400N具有強大的自動功能,包括自動燈絲飽和、4偏壓、自動槍對中、自動束流設定、自動合軸自動聚焦和消像散、自動亮度對比度等。

 

2. 在3kV低加速電壓時保證有10nm的分辨率。

 

3. 新型5分割高靈敏半導體式背散射探頭。

 

4. S-3400N II型具有五軸馬達臺,傾斜角度可達-20度~+90度,樣品最高可達80mm。

 

5. 分析樣品倉可以同時安裝EDX , WDX 及EBSD。

 

6. 真空系統使用渦輪分子泵,潔凈、高效。

 

技術指標:

項目 描述
SE分辨率 3.0nm (30kV),高真空模式 10nm (3kV), 高真空模式
BSE分辨率 4.0nm (30kV),低真空模式
放大倍率 x5 ~ x300,000
加速電壓 0.3 ~ 30 kV
低真空范圍 6 ~ 270 Pa
最大樣品尺寸 直徑200mm
樣品臺 I型 II型
X 0 ~ 80mm 0 ~ 100mm
Y 0 ~ 40mm 0 ~ 50mm
Z 5 ~ 35mm 5 ~ 65mm
R 360º 360º
T -20º~ +90º -20º ~ +90º
最大樣品高度 35mm (WD=10mm) 80mm (WD=10mm)
驅動類型 手動 五軸馬達驅動
燈絲 預對中鎢燈絲
物鏡光欄 可移動式4孔物鏡光欄
槍偏壓 固定比例偏壓、手動偏壓和自動4偏
檢測器 二次電子檢測器 高靈敏度半導體背散射電子檢測器
分析位置 WD=10mm, TOA=35o
控制 鼠標、鍵盤,手動旋鈕
自動調校 自動燈絲飽和、自動4偏壓、自動槍對中、自動束流設定、自動合軸、自動聚焦 消像散、自動亮度對比度

該公司產品分類: 日本日立 日本理音 德國耐馳 安捷倫 梅特勒 分析儀器

KYKY-EM3900系列高性能掃描電子顯微鏡

 KYKY-EM3900系列高性能掃描電子顯微鏡,優化設計了電子光學鏡筒,采用錐形物鏡,提高了儀器的分辨率, 可以幫助用戶獲得更為清晰的樣品表面形貌圖像。同時,采用翻開式電子槍,方便用戶更換燈絲;中英文雙語操作界面可以自由切換,操作界面友好、直觀、方便,即使電鏡新手也能輕易上手;儀器底部增加滾軸,方便儀器搬運和移動……所有這些更具人性化的精心設計,都會令這款電鏡成為您工作中的好幫手和好伙伴!  
項目 EM3900M EM3900Z EM3900A EM3900AZ

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