鍍層測厚儀
性能特點
1、上照式 2、測試組件可升降 3、高精度移動平臺4、小準直器 5、高分辨率探頭6、可視化操作 7、自動定位高度8、自動尋找光斑 9、鼠標定位測試點10、良好的射線屏蔽11、超大樣品腔設計12、測試口安全防護
技術指標
型號：Thick 800A元素分析范圍從硫（S）到鈾（U）。 一次可同時分析最多24個元素或五層以上鍍層。元素分析檢出限可達2ppm，分析含量一般為2ppm到99.9％。鍍層厚度最薄可達0.005um，一般在20um內（不同材料有所不同）。小孔準直器（最小直徑0.1mm），測試光斑在0.2mm以內。高精度移動平臺（定位精度小于0.005mm）。任意多個可選擇的分析和識別模型。相互獨立的基體效應校正模型。多次測量重復性可達0.05um（對少于1um的最外層Au）。工作穩定性為0.1um（對少于1um的最外層Au）。溫度適應范圍為15℃至30℃。電源: 交流220V±5V, 建議配置交流凈化穩壓電源。 儀器尺寸：576 x 495x545 mm重量：90 kg
標準配置
開放式樣品腔。精密二維移動樣品平臺，探測器和X光管上下可動，實現三維移動。雙激光定位裝置。鉛玻璃屏蔽罩。 Si-Pin探測器。信號檢測電子電路。高低壓電源。X光管。高度傳感器保護傳感器計算機及噴墨打印機
應用領域
黃金，鉑，銀等貴金屬和各種首飾的含量檢測.金屬鍍層的厚度測量, 電鍍液和鍍層含量的測定。主要用于貴金屬加工和首飾加工行業；銀行，首飾銷售和檢測機構；電鍍行業。
TC210TC210涂鍍層測厚儀
涂鍍層測厚儀
DT-156 便攜式涂鍍層測厚儀
DT-156 便攜式涂鍍層測厚儀價格北京美特邇環保儀器批發零售DT-156涂鍍層測厚儀探頭可以工作在電磁感應和渦流兩種原理下。在自動模式（AUTO）下，兩種原理可視測量的基體自動轉換，或可通過菜單進行自動模式和非自動模式轉換。
特性
1、可測量涂鍍層： ①磁性物質表面的非磁性涂鍍層厚度 ②非磁性金屬表面的絕緣涂鍍層厚度
2、豐富的操作菜單
3、連續和單次測量方式
4、直接工作模式和組工作模式
5、可統計并顯示：平均值、大小值、標準方差、統計數
6、可進行一點或兩點校準
7、可保存400個測量數據
8、USB連接并將數據傳輸至電腦
9、實時刪除測量數據和組數據
10、紅寶石探頭
11、低電和錯誤提示
12、可設置的自動關機功能
尺寸：113.5*54*27mm 重量：110g
配件 使用說明書×1 保修卡×1 AAA 7號電池×2 鐵磁基底×1 鋁塊基底×1 校準薄片×3 USB連接線×1 軟件CD×1 便攜工具盒×1
DT-156 便攜式涂鍍層測厚儀價格北京美特邇環保儀器批發零售
MiniTest1100涂鍍層測厚儀
德國EPK（Elektrophysik）公司
涂鍍層測厚儀MiniTest1100/2100/3100/4100特點：MiniTest1100/2100/3100/4100包括四種不同的主機，各自具有不同的數據處理功能；所有型號均可配所有探頭；可通過RS232接口連接MiniPrint打印機和計算機；可使用一片或二片標準箔校準。
| 技術特征 |
| 型號 | 1100 | 2100 | 3100 | 4100 |
| MINITEST 存儲的數據量 | ||||
| 應用行數（根據不同探頭或測試條件而記憶的校準基礎數據數） | 1 | 1 | 10 | 99 |
| 每個應用行下的組（BATCH）數（對組內數據自動統計計算，并可設寬容度極限值） | | 1 | 10 | 99 |
| 可用各自的日期和時間標識特性的組數 | | 1 | 500 | 500 |
| 數據總量 | 1 | 10000 | 10000 | 10000 |
| MINITEST統計計算功能 | ||||
| 讀數的六種統計值x,s,n,max,min,kvar | | √ | √ | √ |
| 讀數的八種統計值x,s,n,max,min,kvar,Cp,Cpk | | | √ | √ |
| 組統計值六種x,s,n,max,min,kvar | | | √ | √ |
| 組統計值八種x,s,n,max,min,kvar,Cp,Cpk | | | √ | √ |
| 存儲顯示每一個應用行下的所有組內數據 | | | | √ |
| 分組打印以上顯示和存儲的數據和統計值 | | | √ | √ |
| 顯示并打印測量值、打印的日期和時間 | | √ | √ | √ |
| 其他功能 | ||||
| 設置極限值 | | | √ | √ |
| 連續測量模式快速測量，通過模擬柱識別最大最小值 | | | √ | √ |
| 連續測量模式中測量穩定后顯示讀數 | | | √ | √ |
| 連續測量模式中顯示最小值 | | | √ | √ |
| 可選探頭參數（探頭圖示） 所有探頭都可配合任一主機使用。在選擇最適用的探頭時需要考慮覆層厚度，基體材料以及基體的形狀、厚度、大小、幾何尺寸等因素。 F型探頭：測量鋼鐵基體上的非磁性覆層 N型探頭：測量有色金屬基體上的絕緣覆層 FN兩用探頭：同時具備F型和N性探頭的功能 |
| 探頭 | 量程 | 低端 分辨率 | 誤差 | 最小曲率半徑 （凸/凹） | 最小測量 區域直徑 | 最小基 體厚度 | 探頭尺寸 | |
| 磁 感 應 法 | F05 | 0-500μm | 0.1μm | ±（1%±0.7μm） | 1/5mm | 3mm | 0.2mm | φ15x62mm |
| F1.6 | 0-1600μm | 0.1μm | ±（1%±1μm） | 1.5/10mm | 5mm | 0.5mm | φ15x62mm | |
| F1.6/90 | 0-1600μm | 0.1μm | ±（1%±1μm） | 平面/6mm | 5mm | 0.5mm | φ8x8x170mm | |
| F2/90 | 0-2000μm | 0.2μm | ±（1%±1μm） | 平面/6mm | 5mm | 0.5mm | φ8x8x170mm | |
| F3 | 0-3000μm | 0.2μm | ±（1%±1μm） | 1.5/10mm | 5mm | 0.5mm | φ15x62mm | |
| F10 | 0-10mm | 5μm | ±（1%±10μm） | 5/16mm | 20mm | 1mm | φ25x46mm | |
| F20 | 0-20mm | 10μm | ±（1%±10μm） | 10/30mm | 40mm | 2mm | φ40x66mm | |
| F50 | 0-50mm | 10μm | ±（3%±50μm） | 50/200mm | 300mm | 2mm | φ45x70mm | |
| 兩 用 | FN1.6 | 0-1600μm | 0.1μm | ±（1%±1μm） | 1.5/10mm | 5mm | F0.5mm/N50μm | φ15x62mm |
| FN1.6P | 0-1600μm | 0.1μm | ±（1%±1μm） | 平面 | 30mm | F0.5mm/N50μm | φ21x89mm | |
| FN2 | 0-2000μm | 0.2μm | ±（1%±1μm） | 1.5/10mm | 5mm | F0.5mm/N50μm | φ15x62mm | |
| 電 渦 流 法 | N02 | 0-200μm | 0.1μm | ±（1%±0.5μm） | 1/10mm | 2mm | 50μm | φ16x70mm |
| N.08Cr | 0-80μm | 0.1μm | ±（1%±1μm） | 2.5mm | 2mm | 100μm | φ15x62mm | |
| N1.6 | 0-1600μm | 0.1μm | ±（1%±1μm） | 1.5/10mm | 2mm | 50μm | φ15x62mm | |
| N1.6/90 | 0-1600μm | 0.1μm | ±（1%±1μm） | 平面/10mm | 5mm | 50μm | φ13x13x170mm | |
| N2 | 0-2000μm | 0.2μm | ±（1%±1μm） | 1.5/10mm | 5mm | 50μm | φ15x62mm | |
| N2/90 | 0-2000μm | 0.2μm | ±（1%±1μm） | 平面/10mm | 5mm | 50μm | φ13x13x170mm | |
| N10 | 0-10mm | 10μm | ±（1%±25μm） | 25/100mm | 50mm | 50μm | φ60x50mm | |
| N20 | 0-20mm | 10μm | ±（1%±50μm） | 25/100mm | 70mm | 50μm | φ65x75mm | |
| N100 | 0-100mm | 100μm | ±（1%±0.3mm） | 100mm/平面 | 200mm | 50μm | φ126x155mm | |
| CN02 | 10-200μm | 0.2μm | ±（1%±1μm） | 平面 | 7mm | 無限制 | φ17x80mm | |
| F1.6/90、F2/90、N1.6/90、N2/90為直角探頭，用于管內測量。 N.08Cr適合銅上鉻，FN2也適合銅上鉻。 CN02用于絕緣體上的有色金屬覆層。 |
GALVANOTEST電解破壞式庫侖鍍層測厚儀
GALVANOTEST庫侖鍍層測厚儀的介紹：
1. 可測實際應用的所有鍍層
2. 利用庫侖電量分析原理，測量鍍層、多層鍍層
3. 符合國際標準：DIN EN ISO 2177
GALVANOTEST 可以測量
70種以上鍍層/基體組合
預置9種金屬的測量參數：Cr鉻、Ni鎳、Cu銅、黃銅、Zn鋅、Ag銀、Sn 錫、Pb鉛、Cd鎘。
從單鍍層，例如鋅在鋼上，直至三鍍層，例如鉻層在鎳層再在銅層或塑料上。
X-strata960涂鍍層測厚儀
X-strata960X射線熒光鍍層厚度測量儀
基于25年涂鍍層測量經驗，在CMI900系列測厚儀的堅實基礎上，引進的設計：
•；新100瓦X射線管 - 市場上所能提供的的X射線管。提高30%測量精度，同時減少50%測量時間
•；更小的X射線光斑尺寸 - 新增15mil直徑準直器，可測量電子器件上更小的部位。提供改進的CCD攝像頭及縮放裝置，同時提供更高精度的Y軸控制。
•；距離獨立測量（DIM） - 更靈活地特殊形狀樣品，可在DIM范圍內12.5-90mm（0.5-3.5inch）對樣品表面進行測量，Z軸可控制范圍為230mm（9inch）。可通過手動調整也可以通過自動鐳射聚焦來實現對樣品的精確對準。
•；自動鐳射聚焦 - 自動尋找振決的聚焦距離，改善DIM的聚焦過程并提高系統測量再現性。也可選擇標準的鐳射聚焦模式。
•；的大型樣品室 - 更大的開槽式樣品室（580x510x230mm : 23x20x9inch）,開槽式設計可容納超大尺寸的樣品。可從各個方向簡便的裝載和觀察樣品。
•；3種樣品臺選項 - XY程控控制(200x200mm或8x8inch移動范圍)/XY手動控制（250x250mm或10x10英寸）/固定樣品臺；標準配置Z軸程控控制(230mm或9inch移動范圍)。
•；內置PC用戶界面
X-Strata 960測厚儀
主要應用領域：
用于高精度要求的別測厚儀
電路板/半導體/連接器端子/五金貴金屬電鍍
（如1.0uinch Au，Ag…）
主要特點:
X-Strata 960 X熒光射線測厚儀，可快速測定各種材料構成
的多層鍍層厚度和元素組成。長壽命100瓦微焦點X射線管
（其它測厚儀為50瓦）。提高30%分析精度和減少50%的分
析時間三種樣品臺可供選擇:程控XYZ軸:300 x 200 x 230mm；
手動XY軸：250 x 250mm＋230mm程控Z軸；固定位置樣品臺，
最大高度230 mm更小準直器,測量更小區域:最小直徑15um
圓形準直器，20x/80xCCD圖像放大倍數自由距離測量DIM：
更靈活地測量不規則樣品（凹凸）,在12.5~102mm自由聚
焦范圍內可聚焦樣品表面任意測量點。并有自動雷射
聚焦功能 一體機工作站式設計，簡化設備安裝，減少占用
空間。
儀器介紹:
960系列 X射線熒光測厚儀樣品臺采用箱體式設計‘能
測量多種幾何形體、各種尺寸的樣品’，測定方法滿足
ISO3497、 ASTM B568和DIN 50987
技術參數:
元素范圍: Ti22 – U92 同時分析層數和元素定量:5層
(4層+基體)；最多同時15種元素定量
X射線激發:100瓦(50kV-2.0mA)微焦點鎢靶X射線管
（可選鉬靶X射線管）
X射線檢測: Xe封氣正比計數器，可最多裝備3種二次
濾光片
準直器: 最多4種，多種規格備選樣品形態: 電鍍、
涂鍍、薄膜、合金、液體、等等
數字脈沖處理器:4096通道數字多道分析器,包含自動
波譜校正和Pulse Pile Rejection功能
CCD: 1/3” CCD 640 x 512 Pixel array, 500 line/inch
電源: 85-130V或者215-265V、頻率47-63Hz
工作環境: 10－40℃、相對濕度小于98%，無冷凝水
樣品臺移動量: 程控XYZ軸：300 x 200 x 230mm； 手
動XY軸：250 x 250mm＋230mm程控Z軸
儀器尺寸:H744 x W686 x D813
重量: 160公斤
TT210TT210鍍層測厚儀
- 采用了磁性和渦流兩種測厚方法，可無損地測量
- 磁性金屬基體（如鋼、鐵、合金等）上非磁性覆層厚度（如鋅、鋁、鉻、銅、橡膠、油漆等）
- 非磁性金屬基體（如銅、鋁、鋅、錫等）上非導電覆層厚度（如:橡膠、油漆、陽極氧化膜等）
- 具有兩種測量方式：連續測量方式（CONTINUE）和單次測量方式（SINGLE）
- 具有兩種工作方式：直接方式（DIRECT）和成組方式（Appl）
- 設有五個統計量：平均值、最大值（MAX）、最小值（MIN）、測試次數（NO．）、標準偏差
- 可采用兩種方法對儀器進行校準,并可用基本校準法對測頭的系統誤差進行修正
- 具有存貯功能：可存貯500 個測量值
- 具有刪除功能：對測量中出現的單個可疑數據進行刪除，也可刪除存貯區內的所有數據
- 可設置限界：對限界外的測量值能自動報警；并可用直方圖對一批測量值進行分析
- 具有打印功能：可打印測量值、統計值、限界、直方圖
- 具有與PC 機通訊的功能：可將測量值、統計值傳輸至PC 機，以便對數據進行進一步處理
- 具有電源欠壓指示功能
- 操作過程有蜂鳴聲提示
- 具有錯誤提示功能，通過屏顯或蜂鳴聲進行錯誤提示
- 設有兩種關機方式：手動關機方式和自動關機方式
- 測頭類型：F | N
- 測量原理：磁感應 | 電渦流
- 測量范圍：0-1250um | 0-1250um 0-40um（銅上鍍鉻）
- 低限分辨力：0.1um
- 探頭連接方式：一體化
- 示值誤差：F | N
- 一點校準（um）：±[3%H+1]
- 兩點校準（um）：±[（1%~3%）H+1]
- 一點校準（um）：±[3%H+1.5]
- 兩點校準（um）：±[（1%~3%）H+1.5]
- 測量條件：F | N
- 最小曲率半徑（mm）：凸1.5 | 凹9
- 基體最小面積的直徑（mm）：ф7
- 最小臨界厚度（mm）：0.5
- 最小曲率半徑（mm）：凸3 | 凹10
- 基體最小面積的直徑（mm）：ф5
- 最小臨界厚度（mm）：0.3
- 溫濕度：0~40℃ | 20%RH～90%RH
- 統計功能：平均值、最大值（MAX）、最小值（MIN）、測試次數（NO．）、標準偏差
- 工作方式：直接方式（DIRECT）和成組方式（Appl）
- 測量方式：連續測量方式（CONTINUE）和單次測量方式（SINGLE）
- 上下限設置：有
- 存儲能力：500個測量值
- 打印/連接計算機：可選配打印機/不能連接電腦
- 關機方式：手動和自動
- 電源：二節AAA型（7號）1.5V電池
- 外形尺寸：110×50×23mm
- 重量：100g
- 主機
- 鐵基體和鋁基體
- 標準片一套|五片
- 二節AA型（5號）1.5V電池
- 儀器保護套
- 使用說明書
涂鍍層測厚儀 型號:M303497
| 涂鍍層測厚儀 型號:M303497 | 貨號: |
| 詳細介紹： BSK-05-TT220數字式涂層測厚儀采用磁性測厚法，它能快速、無損傷、精頦地進行鐵磁性金屬基體上的覆層厚度的測量。可廣泛用于制造業、金屬加工業、化工業、商檢等檢測領域。由于該儀器體積小，測頭與儀器一體化，特別適用于工程現場測量。 主要功能: 可對測頭進行基本校準；可進行零點校準及二點校準； 設有五個統計量：平均值(MEAN)、最大值(MAX)、最小值(MIN)、測試次數(NO)、標準偏差(S.DEV)。 可存貯和統計計算15個測量值。 具有兩種測量方式：連續測量方式(CONTINUE)和單次測量方式(SINGLE)。 自動關機功能。 刪除功能：對測量中出現的單次可疑數據進行刪除，也可刪除存貯區內的所有數據，以便進行新的測量。 操作過程有蜂鳴聲提示。 有欠壓指示功能。 有錯誤提示功能。 技術參數： 測量范圍（µm） 待測基體最小曲率半徑 （mm） 基體最小面積的直徑（mm） 基體最小面積的直徑（mm） 低限分辨力（µm） 示值誤差（µm） 零點校準 二點校準 0~1250 凸1.5 凹9 Æ7 1 ±（3%H+1） ±[（1%~ 3%）H+1] 基本配置 TT220主機 1臺 標準樣片 5片 標準基體 1塊 充電器 1個 選購件 TA230打印機 1臺 TA510線纜 1根 |
鍍層測厚儀
CMI900 無損電鍍 膜厚測試儀，鍍層測厚儀 專業測量金、銀 鈀 銠 鎳 銅 錫 等貴金屬多鍍層膜厚測量，快速 無損，業內廣受好評，客戶應
用廣泛在 五金 連接器 PCB LED支架等行業以形成行業測量的標準。歡迎廣大五金連接器客戶聯系 測量量樣品 洽談往來 本公司經營多年工程師經驗豐富，商業合作個方式靈活。
金屬鍍層厚度測量， 例如Zn；Cr； Cu； Ag； Au；Sn等 合金（兩樣金屬元素）鍍層厚度測量， 例如： SnPb； ZnNi； 及NiP（無電浸鎳）在Fe上等 合金（三檬金屬元素）鍍層厚度測量， 例如： AuCuCd在Ni上等 雙鍍層厚度測量， 例如：Au／Ni在Cu 上； Cr／Ni在Cu上；Au／Ag在Ni上；Sn／Cu在黃銅上等 雙鍍層厚度測量（其中一層是合金層）， 例如： SnPb／Ni或Au／PdNi在青銅上等 三鍍層， 例如： Cr／Ni／Cu在塑膠或在鐵上
PCB LED 連接器等行業 gold flash/ Nip / Cu 或 Au / Pdni / Cu ~~ Ag / Ni / Cu / Ni / Cu 等常見應用
儀器介紹CMI 900 系列X射線熒光測厚儀是一種功能強大的材料涂/鍍層測量儀器，可應用于材料的涂/鍍層 厚度、材料組成、貴金屬含量檢測等領域
，為產品質量控制提供、快速的分析.基于WindowsXP中文視窗系統的中文版 SmartLink FP 應用軟件包，實現了對CMI900主機的自動化控制， PCB 五金 LED 連接器 表面處理等行業技術參數：CMI 900 X-射線熒光鍍層厚度測量儀,在技術上一直以來都領先于全世界的測厚行業A CMI 900 能夠測量包含原子序號22至92的典型元素的電鍍層、鍍層、表膜和液體,極薄的浸液鍍層（銀、金、鈀、錫等）和其它薄鍍層。區別材料并定性或定量測量合金材料的成份百分含量可同時測定最多5層、15 種元素。B ：精確度領先于世界，精確到0。025um （相對與標準片）C ：數據統計報告功能允許用戶自定義多媒體分析報告格式，以滿足您特定的分析報告格式要求 ；如在分析報告中插入數據圖表、測定位置的圖象、CAD文件等。D ：統計功能提供數據平均值、誤差分析、最大值、最小值、數據變動范圍、相對偏差、UCL（控制上限）、LCL（控制下限）、CpK圖、直方圖、X
-bar/R圖等多種數據分析模式。CMI900系列X射線熒光測厚儀能夠測量多種幾何形狀各種尺寸的樣品；E ：可測量任一測量點，最小可達0.025 x 0.051毫米牛津儀器CMI900電鍍膜厚測量儀
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