廣東正業提供CMI900鍍層測厚儀,CMI700涂層鍍層測厚儀,CMI500銅厚測厚儀,CMI165等涂鍍層測厚儀,元素分析儀,無損檢測測厚儀.廣東正業中國大陸的牛津儀器一級代理,專業銷售維修:X-STRATA960,980等各種型號涂鍍層測厚儀,擁有一支經驗豐富的服務團隊,為客戶提供及時,的售前/售后服務和技術支持。
CMI900用于鍍層厚度測量以及分析鍍層金屬成分、鍍液,是一款專用鍍層測厚儀、(印制線路板之金/鎳、錫/鉛、錫/銀等)的非破壞性精確測量及材料成分分析。
CMI900鍍層測厚儀用途:
1.多鍍層金屬厚度測
2.合金鑒定及化學分析
3.電鍍液分析
4.金成色分析
CMI900鍍層測厚儀特征:
應用X射線熒光原理測量,精確度高且不破壞樣品。
NIST(美國國家標準和技術學會)的標準片。
CMI900系列膜厚測試儀能夠測量多幾種形狀,各種尺寸的樣品;并且測量點最小可達0.025×0.051毫米。
CMI900系列采用開槽式樣品室,以方便對大面積線路板樣品的測量。它可提供五種規格的樣品臺供用戶選擇用,分別為:標準樣品臺,XY軸固定,Z軸自動控制;擴展型標準樣品臺,XY軸固定,Z軸自動控制;可調高度型標準樣品臺,XY軸手動控制、Z軸自動控制;程控樣品臺,XYZ軸自動控制;超寬程控樣品臺,XYZ軸自動控制。
CMI900鍍層測厚儀技術參數:
項目 | 規格 |
測量元素 | 22(TI)-92(U) |
測量層數 | 5層(4層鍍層+基材層) |
X射線管功率 | 50W |
X射線管靶材 | 鎢 |
最大可安裝準直器數量 | 6個 |
外形尺寸 | 305×711×356mm(標準臺) |
概述: PosiTector 200 采用超聲波技術,非破壞性測量,應用廣泛,可測量木材、混泥土、塑料、組合物等等。型號可測量多層系統中的三個單層的厚度,且型號帶有圖解讀數,其數據可用于對涂層系統進行詳細分析。
簡單 |
技術參數
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注: | B-小量程C-大量程S-標準型A-型 |
一、概述 5000um型涂層測厚儀(鍍層測厚儀)測量范圍:0~5000um,是高新技術的結晶,它采用單片機技術,精度高、數字顯示、示值穩定、功耗低、操作簡單方便、觸摸按鍵、單探頭全量程測量、體積小、重量輕;且具有存儲、讀出、統計、低電壓指示、系統校準,其性能達到當代國際同類儀器的先進水平。 應用范圍: 涂層測厚儀儀器采用磁性測厚法,可以方便無損地測量鐵磁材料上非磁性涂層的厚度,如鋼鐵表面上的鋅、銅、鉻等鍍層或油漆、搪瓷、玻璃鋼、噴塑、瀝青等涂層的厚度。該儀器廣泛應用于機械、汽車、造船、石油、化工、電鍍、噴塑、搪瓷、塑料等行業。 工作原理 : 5000um型涂鍍層測厚儀采用電磁感應法測量涂鍍層的厚度。位于部件表面的探頭產生一個閉合的磁回路,隨著探頭與鐵磁性材料間的距離的改變,該磁回路將不同程度的改變,引起磁阻及探頭線圈電感的變化。利用這一原理可以精確地測量探頭與鐵磁性材料間的距離,即涂鍍層厚度。 二、產品性能 1、測量范圍: 0~5000um 2、測量誤差(H為被測覆層厚度):±(3%H+1um) 3、重復性:±(1.5%H+2um) 5、最小示值: 1um6、顯示方式: 4位液晶數字顯示 7、主要功能: (1).測量: 單探頭全量程測厚 (2).存儲、刪除: 可存入測量數據600個,對測量中的單個可疑數據進行刪除,也可以刪除存儲區內的所有數據。 (3).讀: 讀出已存入的測量數據 (4).統計: 設有三個統計量,平均值最大值最小值 (5).校準: 可進行系統校準 (6).電量: 具有欠壓顯示功能 (7).打印: 可打印測量值,選配微型打印機 (8).關機: 具有自動關機和手動關機兩種方法 8、電源: 兩節1.5v電池 9、功耗: 最大功耗100mw 10、外形盡寸: 51mm*126mm*27mm 11、重量: 160g(含電池) 12、使用環境溫度: 0℃~+40℃ 相對濕度:不大于90% 13、基體最小厚度: 0.5mm 14、基體最小平面的直徑: 7mm 15、最小曲率半徑: 凸:1.5mm 凹:6mm 16、欠電壓指示: 右上角顯示" *臨界厚度小:工件鐵基厚度大于1mm時,其涂(鍍)層厚度的測量不受鐵基厚度![]() | |
三、5000um型涂層測厚儀(涂鍍層測厚儀)配置單 1、5000um型涂鍍層測厚儀 一臺 2、七號電池 二節 3、探頭 一支 4、標準樣片 一盒 5、手提箱 一個 6、說明書、合格證 一套 選配件: 1、打印機及通訊打印連線 1套 2、微機通訊軟件 1盤 3、內防腐探頭 |
功能特點:
傳感器探頭 | 鐵磁性 | 非鐵磁性 |
工作原理 | 磁感應 | 渦流 |
測量范圍 | 0~1250um | 0~1250um |
| 0~49.21mil | 0~49.21mils |
誤差 | 0~850 um (1~3%+1um) | 0~850 um(1~3%+1.5um) |
(相對當前讀數) | 850um~1250um (3~ 5%) | 850um~1250 um (3~ 5%) |
| 0~33.46 mils (1~3%+0.039mils) | 0~33.46mils (1~3%+0.059mils) |
| 33.46um~49.21mils 3~ 5%) | 33.46um~49.21mils (3~ 5%) |
精度 | 0~50um (0.1um) | 0~50um (0.1um) |
| 50um~850um(1um) | 50um~850um(1um) |
| 850um~1250um(0.01mm) | 850um~1250um(0.01mm) |
| 0~1.968mils (0.001mils) | 0~1.968mils (0.001mils) |
| 1.968mils~33.46mils(0.01mils) | 1.968mils~33.46mils(0.01mils) |
| 33.46mils~49.21mils(0.1mils) | 33.46mils~49.21mils(0.1mils) |
涂鍍層測厚儀PosiTector6000系列 | ||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||
美國DeFelsko公司新的PosiTector 6000系列涂鍍層測厚儀儀器特點
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涂層測厚儀PosiTector6000系列技術參數
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特點簡介:采用MCS-51系列高性能單片微處理器,自動采集、計算 并顯示結果,采用四位LED顯示。如配用微型打印機,可 自動打印測量結果。與PC電腦連接,電腦可控制測量 過程,顯示并可儲存測量曲線及結果,由通用打印機打印 測量報告。 臺灣技術 專業制造 | |||||||||||||||||||||||||||||||||
產品說明 | |||||||||||||||||||||||||||||||||
測量對象: 單金屬鍍層:(Cu Zn、Ni、Ag、Sn、Cr等) 合金鍍層(Pb-Sn、Cr-Zn、Zn-Ni、Ni-P等); 復合鍍層(Cu+Ni+Cr/Fe等); 多線鍍層(需配用電位記錄儀,如與PC電腦連接則不需記錄儀); 詳細說明: 測量品種:銅、鎳、鉻、鋅、鎘、銀、金、多層鎳各層厚度及層間電位差。 測量范圍:0.03μm~99.99μm 度:±10% 復現精度:<5% 電位測量范圍:-100mv~+400mv 電位測量精度:±5% 本產品榮獲國家輕工部科技成果三等獎。
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韓國MicroPioneer XRF-2000 X射線鍍層測厚儀/膜厚儀
產品介紹
X 螢光射線膜厚分析儀是利用 XRF 原理來分析測量金屬厚度及物質成分,可用於材料的涂層 / 鍍層厚度、材料組成和貴金屬含量檢測。
XRF-2000 系列分為以下三種: 1. H-Type :密閉式樣品室,方便測量的樣品較大,高度約100mm以下。 2. L-Type : 密閉式樣品室,方便測量 樣品較小,高度約30mm以下。 3. PCB-Type : 開放式樣品室,方便大面積的如大型電路板高度約30mm以下的量測 。 應用 : 測量鍍金、涂層、薄膜、元素的成分或者是厚度,其可偵測元素的范圍: Ti(22)~U(92 )。 行業 : 五金類、螺絲類、 PCB 類、連接器端子類行業、電鍍類等。 特色 : 非破壞,非接觸式檢測分析,快速精準。 可測量高達六層的鍍層 (五層厚度 + 底材 ) 并可同時分析多種元素。 相容Microsoft微軟作業系統之測量軟體,操作方便,直接可用Office軟體編輯報告 。 全系列獨特設計樣品與光徑自動對準系統。 標準配備: 溶液分析軟體 ,可以分析電鍍液成份與含量。 準直器口徑多種選擇,可根據樣品大小來選擇準值器的口徑。 移動方式:全系列全自動載臺電動控制,減少人為視差 。 獨特2D與3D或任意位置表面量測分析。 雷射對焦,配合彩色CCD擷取影像使用point and shot功能。
標準ROI軟體 搭配內建多種專業報告格式,亦可將數據、圖形、統計等作成完整報告 。
光學2 0X 影像放大功能,更能精確對位。
單位選擇: mils 、 uin 、 mm 、 um 。 優於美製儀器的設計與零件可 靠度以及擁有價格與零件的最佳優勢。 儀器正常使用保固期一年,強大的專業技術支援及良好的售后服務。 測試方法符合 ISO 3497 、 ASTM B568 及 DIN 50987。
韓國Micro Pioneer 還推出一款元素分析及測厚兩用的XRF-2000R型號
Micro Pioneer XRF-2000R X光鍍層測厚儀及ROHS元素分析儀
是在XRF-2000系列測厚儀的基礎上增加了元素分析及有害物質檢測的功能,
其物點為:高分辨率,固態探測器; 可分析超薄樣品
分析有害物質,元素分析分之 ppm - 100%, 符合RoHS / WEEE標準測試以及ELV指令優化的應用;
可測量多層鍍層厚度及錫鉛成分分析;
電鍍溶液分析;
定性分析超過30種元素,能夠測量液體,固體,粉末,薄膜和不規則形狀;
貴金屬元素含量和分析(金,銀,鉑,和珠寶);
自動過濾器,多準直儀(五個準直器,從0.1mm-3.0mm)和全自動XYZ移動樣品臺;
性價比超強的元素分析及鍍層測厚雙功能分析儀器
儀器尺寸:W610mm D670mm H490mm, 重量:75Kg (net)
可測量樣器大小:W550mm D550mm H30mm