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HBU-3000、HBU-750型光學布氏硬度計

主要技術規格：1、初試驗力級數：HBU-3000型2452、7355、9807、29420N：HBU-750型612.9、1839、2452、4903、7355N；2、試件最大高度：450mm；3、壓頭中心至機架距離：200mm；4、試驗力保持時間：12、30、60(s)；5、硬度范圍：HBU-3000型35-650HBS(W)；HBU--750型8-650HBS(w)；6、鋼球直徑：HBU-3000型￠5、￠10mm HBU-750型￠2.5、￠5、￠1Omm；7、光學放大倍數：20Xo8、示值精度：《3％；9、外型尺寸：1025×374×1315mm；10、凈重：450Kg

Contour GT光學輪廓儀 布魯克（原veeco）

  Contour GT系統利用白光干涉來測量納米級至微米級的表面形貌，并且具有業界最大視場下的垂直分辨率。儀器具備多種倍率物鏡（1.25倍-100倍），可以表征具有不同表面形狀和結構的樣品。而且在任何放大倍數下，系統的縱向范圍都能夠達到亞-埃至毫米級，其靈活性無可比擬。

         Bruker專利技術-高亮LED雙光源照明-使測量結果不管在科研還是工業環境中都具有超高的性和可重復性。Contour GT系列擁有同類產品的易用性：簡潔的操作界面通過對測量和數據獲取過程的簡化大大提高了系統和人力效率；獨特的可視工作流程工具提供了直觀的分析選項。
        Contour GT系列光學輪廓儀可廣泛的應用于：精密機械，光伏材料，電子材料，航空航天，光學材料和醫療器械等領域。
該公司產品分類： 仿真應用解決方案 電動運動控制系統 通用均勻光源系統 X ray檢測設備

PS1512測量TFT-LCD光學三次元

 

品牌 snicety 型號 PS1512
分辨率 0.001（mm） 測量行程 1500*1200*200（mm）
放大倍率 22-145X 操作方式 程序控制
測量精度 5+L/200 外形尺寸（長*寬*高） 2100*1900*1500（mm）

非接觸式三次元，型號：1200 X 1500 X 200MM

精度：XY軸定位精度3µm，全行程精度（5+L/200）µm

      Z軸定位精度5µm，全行程精度（5+L/100）µm

 

功能簡介

1．非接觸式光學影像幾何量測系統

2．投影儀比對系統

3．量測圖形及影像攝取打印系統

4．數據分析及輸出輸入系統

 

一．機構系統

1．懸臂式結構，00級花崗巖底座，確保機構不變形

2．工作平臺采用高精度、低折射率工業專用光學玻璃

測量行程：X:1200MM  Y:1500MM  Z:200MM

平臺承重：30KG

3．高精度、高穩定性日本THK直線導軌

導軌直線度：±2µm

XY軸移動速度：400mm/s ；Z軸移動速度：100mm/s

XY軸加速度：800mm/s2；Z軸加速度：300mm/s2

4．高穩定、高精度、低噪音日本黑田滾珠絲桿，確保機器運行平穩

5．高抗扭性日本三木聯軸器

 6．玻璃固定治具，固定或壓平軟性工件（選配）

 

二．電控系統

 1．高穩定性日本Panasonic AC伺服馬達/日本安川AC伺服馬達（選配）

 2．美國Galil四軸伺服控制卡

    PCI總線

脈沖輸出頻率3MHZ

四路編碼器輸入口，頻率12MHZ

8入8出I/O點

最小伺服更新率（Servo loop ｕpdate rate）

1、2軸：125微秒

3、4軸：250微秒

3．高分辨率、高穩定性英國RENISHAW封閉式光柵尺

光柵尺分辨率：1.0µm（選配）

 4．雷賽ENC7480計數卡

32位PCI總線

4軸28位計數器，最大輸入頻率5MHZ

 

三．影像系統

 1．日本SONY 1/3”CCD，768 X 494 PIXEL

 2．美國Navitar 6.5:1全自動變倍鏡頭模塊，Motor Zoom 6000

光學放大倍率：0.7-4.5X

影像放大倍率：22-145X/44-290X（加裝2X物鏡）

3．工業專用高速、高清晰SDK2000視頻采集卡

  分辨率：800 X 600 PIXEL；32位真彩色；60幀/秒

 

四．光學系統

1．程控式LED表面光，五環八向四十區塊，光投射角度，27-75°

2．程控式LED輪廓光

3．程控式LED同軸光（選配）

 

五．計算機系統

1．雙核2.0以上CPU

2．2GBRAM，160GB HD

3．512MB獨立顯卡

3．17”標屏LCD顯示器，分辨率：1280 X 1024

4．操作系統：Window XP

5．其它軟件：AUTO CAD/OFFICE（選配）

 

六．軟件系統

 

1         軟件功能簡介

1.1      物件區：點、線、圓、弧、橢圓、距離、間距、角度、矩形、槽型孔、坐標系、點云、平面、球、圓柱、圓錐、O型環

1.2      方法區：中心點、平分、相切、相交、X軸極大值、Y軸極大值、X軸極小值、Y軸極小值、多點回歸、同心圓、垂直、平行、投影

1.3      坐標工具：面補正、X軸補正、Y軸補正、平移與旋轉、調用機械坐標系、原點補正、X軸歸零、Y軸歸零、Z軸歸零

1.4      測量工具區：對焦點、手動點、手動圓、手動弧、橢圓、探針觸發、云點、圓、線、最近邊界點、沿線最近點、弧、中心線等

1.5      幾何繪圖工具區：前視圖、右視圖、上視圖、等角視圖、局部坐標系、影像幾何繪圖、黑白/彩色、最適縮放比、框選放大、拉近/拉遠、旋轉、平移等功能

2         自動變焦系統，避免鏡頭倍率變換后的影像校正

3         提供完整幾何公差計算，具備完整量測功能，量測數據可存盤并隨時輸出計算，還可進行SPC統計制程管制

4         工件量測圖形化，圖形可存盤、打印并轉存CAD圖檔編輯點、線、弧、面、亦可多點測定，與產品圖紙做偏差比較

5         影像可通過屏幕顯示觀察，可任意放大縮小并可轉換成幾何測量對比

6         提供影像直接尋像工具、點、線、框、圓、弧都可快速尋邊，超強去毛邊功能，快速去除有毛邊或瑕疵的影像，正確取得量測數據

7         不用再要專門為自動檢測建立一個教導程序，就所剛剛所測量的步驟軟件可以記錄下來，只要點擊按鈕，即可生成自動步驟的自檢程序

8         強大的三維CAD繪圖處理功能，提供最適化窗口，框選窗口，實時立體旋轉，縮放，平移等基本視角切換功能

9         形位公差功能：位置度，直線度，平行度，傾斜度，垂直度，對稱度，平面度，真圓度，同心度，同軸度等形位公差設定

10     輸出WORD、EXCEL、AUTOCAD文件或SPC統計報表輸出，并且具有DXF輸入離線編程功能

 

七．使用環境

1．電源：（220±5）V/50-60HZ/10A

2．工作環境溫度：（20±3）℃

3．相對濕度：35%-80%

4．振動<0.002g，低于15Hz

 

 

 
八．適用行業

 

背光模塊TFT-LCD、TOUCH PANEL、電路板 PCB、精密沖壓件、精密模具、精密塑料件、汽車配件、刀模、精密五金、手機配件、光罩網版、半導體封裝等

該公司產品分類： 硬度計 各類配件 日本工具 TVM電子劃線高度計 微電腦高度計 瑞士TRIMOS 瑞士TESA 數顯千分尺 游標外徑千分尺 三豐千分尺 三豐數顯卡尺 三豐帶表卡尺 三豐游標卡尺 三豐工具 TM-500 MF-A/B PH系列 SMS PJ系列 SPJ系列

VCS250 觸摸式光學影像投影儀

1、花崗石平板底座，工作臺不變形。2、仰角可調式觸摸屏，適合各種身高及解決背光問題。3、手動可調式LED冷光源，工件不會二次變形。4、高清晰度CCD取像。5、鏡頭可20-120倍連續變倍，不用多次更換鏡頭。6、可自動尋邊量測，提高測量精度。7、觸摸屏與量測技術的結合，操作簡單，功能實用。8、人性化的界面設計，預知操作順序，機臺培訓時間短。9、精度提高，從傳統投影儀的0.02mm 提高至5µm。
10、在儀器瞄準功能上，配有功能強大的十字線發生器，對圖象通過插值放大細化尋邊，可自動尋邊測量，提 高了測量精度。11、功能增加，如能快速測量齒輪的相關參數，錐度測量等等。12、能實現快速輸出、打印、存儲等功能

SX礦石黑鎂鐵錳礦的物理光學性質

礦石黑鎂鐵錳礦的物理光學性質，三兄重工選礦專家礦石黑鎂鐵錳礦的物理光學性質講解如下：黑鎂鐵錳礦呈不規則團塊狀產出，色黑，強磁性，條痕暗褐一暗棕色。雙目鏡下可見到八面體自形、半自形晶，以及具滾圓狀特征。顯微鏡下可見脈狀黑鎂鐵錳礦穿插黑錳礦、赤

鐵礦等礦物。反光鏡下，為帶橄欖色調的灰色，產出形式:砂石生產線       http://www.xksb123.com/proline/line162/金礦選礦設備     http://www.xksb123.com/proline/line129/鐵礦選礦設備 http://www.hnsxzg.com/show/ctkxksb.html鐵礦選礦設備 http://www.hnsxzg.com/show/htkxksb.html銅礦選礦設備   http://www.hnsxzg.com/show/tkxksb.html金礦選礦設備   http://www.hnsxzg.com/show/jkxksb.html①在脈石中呈自形、半自形粒狀直邊鑲嵌結構產出，粒度較細小，粒徑為0.07一o.4mm，一般為0.2mm左右;②呈膠狀產于黑錳礦或菱錳礦中或環繞其邊緣，并交代它們。礦物具褐黃色內反射。正交偏光下均質。黑鎂鐵錳礦內普遍見到細小包含物，呈似環帶狀分布，或不規則狀排列。包

含物呈葉片狀、正方形，或不規則狀、圓粒狀等。其反射率高于黑鎂鐵錳礦，為淺灰微帶藍色，其中個別較大的，可見清楚的非均性及深紅色的內反射，可能為赤鐵礦。[url=http://www.sxxksb.com/]http://www.sxxksb.com/ 選礦設備、選礦設備廠、選礦生產線、選礦設備價格[/url][url=http://www.ctkxk.com/]http://www.ctkxk.com/ 磁鐵礦選礦、 鐵礦選礦、選礦生產線[/url][url=http://www.hnsxxksb.com/]http://www.hnsxxksb.com/ 全套錳礦選礦工藝流程、鎳礦選礦設備、白鎢礦選礦設備[/url]<a > 鐵礦選礦設備、 鐵礦選礦設備 、銅礦選礦設備、金礦選礦設備、選礦生產線</a>   <a >選礦設備價格、選礦生產線、金礦選礦設備、銅礦選礦設備</a>[url=http://www.hnsxzg.com/]http://www.hnsxzg.com/  鐵礦選礦設備、 鐵礦選礦設備 、銅礦選礦設備、金礦選礦設備、選礦生產線[/url]       [url=http://www.xksb123.com/]http://www.xksb123.com/ 選礦設備價格、選礦生產線、金礦選礦設備、銅礦選礦設備[/url]<a >選礦設備、選礦設備廠、選礦生產線、選礦設備價格</a><a >磁鐵礦選礦、 鐵礦選礦、選礦生產線</a><a >全套錳礦選礦工藝流程、鎳礦選礦設備、白鎢礦選礦設備</a>

 

OTSB光學平板OTSB系列

OTSB系列光學平板

        OTSB系列光學平板是采用鋁合金精加工而成，重量輕，容易搬動。其上陣列的標準孔距螺紋孔便于固定各種調整架。表面精飾處理，美觀耐用。

技術指標 ◆厚度；13mm ◆平面度；0.3mm/600mm ◆孔距：25mmx25mm ◆孔徑；M6

 

型號名稱與規格

型號

臺面尺寸

OTSB33 -1

300x300

OTSB345 -1

300x450

OTSB36 -1

300x600

OTSB4545-1

450x450

OTSB456 -1

450x600

OTSB66 -1

600x600

 
 
該公司產品分類： 門控相機/分幅相機 光電模組 半導體光學參數檢測 工業分析 電動直線滑臺 微弱信號處理器 光譜測量用探測器 光譜測量應用系統 光學元件系列產品 光學平臺系列產品 光學調整架系列產品 手動位移臺系列產品 電移臺系列產品 專用光源 光譜儀、光柵光譜儀、單色儀 高光譜成像儀/高光譜分析系統 拉曼光譜分析儀 熒光光譜分析儀（系統） 太陽能電池檢測儀器(系統） LED Tester, LED 分光機

超越者『超越者』光學薄膜激光切割機

『超越者』光學薄膜激光切割機產品說明:  原裝臺灣進口『超越者』光學薄膜激光切割機（高精度高智能高穩定觸摸屏激光切割機）是臺灣最大的工業用鐳射系統制造商悉心研制的具有國際水準的設備，是『超越者』系列機型的精品，其核心部件全部從美國、日本原裝進口,曾榮獲“臺灣精品獎”。歷經20多年市場風雨考驗，全球同步銷售。以全電腦化操控，人性化設計，的性價比而享譽同行，彌補了國產激光設備對觸摸屏切割的不足，彌補行業高精度高智能高穩定性激光技術的空白，技術領先行業2-3年。無與倫比的切割（高精度半切割/全切割工藝），超高速、超加速的無故障運行，是當前中小功率激光切割機中的選擇！  

『超越者』系列光學薄膜激光切割機獨特的機械設計、易學好用的特性，大尺寸工作臺，讓您的加工作業更靈活，更有彈性。工作區有內置照明裝置，這個貼心的設計可使您清晰掌控工作狀況。除此之外，『超越者』ITO薄膜激光切割機是在『超越者』系列機型上的升級，繼承了LTT系列操作控制系統特別針對工業用戶開發，具有高內存、高速度、高精度、高穩定性等重要特點。不需要專用軟件，數據真正意義上的直接輸出，與其它激光機專用軟件或者嵌入式軟件有著本質的區別，避免了在圖形轉換過程中出現失真而達到高精度要求。 

具體特性：1.高智能CCD自動精密定位2.高精密滾珠絲桿3.高精度伺服系統4.探針式自動對焦5.高品質穩定切割設計6.人性化控制系統7.低污染即時吸煙設計8.圓弧優化

是觸摸屏產業解決方案：1.觸摸屏2.電子紙3.偏光片4.導光板5.光學薄膜6.PET Film7.OCA8.Cover Lens9.其他

『超越者』光學薄膜激光切割機的系統參數：Smart Laser Center激  光  源：激光功率 30/60/100瓦二氧化碳金屬射頻管激光波長 10.6μm聚焦鏡 1.5”工作區域 600×500mm/1200×800mm　 540×495mm/1100×700mm（加裝CCD）Z軸工作臺調整 50mm最大工件尺寸 1380（L）×∞（W）×15（H）mm（前門開啟）最大切割速度 300mm/sec（Max）解析度 4064、2032、1016、508、254、127切割精度 ±0.05mm重復精度 ±0.02mmCCD自動系統定位（選配）CCD像素數目 640×480CCD可視范圍 12mm×9mm廠務需求：電源需求 1ф/220V AC，15A（Laser:100W）排煙系統 16m3/min（Min）；ф75mm壓縮空氣 4kg/C㎡（Min）

『超越者』光學薄膜激光切割機的應用范圍：適用行業：電子行業、工業制造行業等。適用材料：觸摸屏、電子紙、光學薄膜、偏光片、ITO Film、PET Film、OCA、Cover Lens、3M、PET、PT、PCB、FPC、PC、PP、PS、PCR、SMT、EMI、EL、各類膠帶材料、薄膜片、墊片（手機墊片）、導光板、背光源、冷光片、觸控面板、開關薄膜、電子絕緣材料、無塵布、泡棉、外延片（晶元、磊晶）、亞克力、雙色板、烤漆金屬片、陽極處理金屬片等。

該公司產品分類： 激光模切機 模型雕刻機 激光之星 激光雕刻機 激光切割機 激光大師

AccuSizer 780單顆粒光學傳感技術儀器

AccuSizer 780 A7000 APS 全自動計數粒度儀 磚利自動稀釋技術，重現尾端真實分布基本信息

圖片1.jpg

儀器型號：AccuSizer 780 A7000 APS

工作原理：單顆粒光學傳感技術（Single Particle Optical Sizing，SPOS）

檢測范圍： 0.5 μm – 400 μm

     AccuSizer 780 A7000 APS全自動計數粒度儀集自動進樣、自動稀釋、自動檢測、數據處理以及自動清洗等全自動檢測功能于一身，為用戶提供可方便、快捷、高效、可靠的粒徑分析。其搭載的LE系列傳感器采用先進的光阻法+光散法單顆粒光學傳感技術（SPOS），擁有512通道的超高分辨率，并搭載具有磚利技術的二步自動稀釋系統，可真實的對大量粒子樣本進行粒徑測試并計數，樣品濃度可達到1011#/ml，粒徑檢測范圍0.5μm–400 μm。

      獨立試驗顯示APS在電化學拋光法（CMP）過程所使用的磨料漿（slurry）中對大顆粒的檢測要比傳統的激光散射法其靈敏度要高1,500到25,000倍。而<USP729>和中國藥典CP2015中更是將此款儀器作為了乳劑中大乳粒（PFAT5）的檢測儀器。同樣，此款儀器可以應用在墨水、顏料、色素、藥物復雜注射劑等行業，這些應用中都有一個共同點——少量的“尾部”大顆粒是判斷一個產品成功或者失敗的重要標準。

 

 

技術優勢

 

1、檢測范圍廣0.5μm-400μm；

2、高分辨率，高靈敏性，統計精度高；

3、粒子靈敏度        ≤10PPT

4、粒徑準確度        ≥98%

5、粒子計數準確度     ≥90%

6、符合21CFR法規軟件——符合cGMP要求；

7、現場校準，無需返廠；

8、模塊化設計，便于升級及維護；

9、512通道，不放過任何細微顆粒；

10、符合美國藥典USP729，中國藥典CP等要求，且可自定義報告和標準；

11、集自動進樣、自動檢測、數據處理以及自動清洗等自動化功能與一身；

 

512數據通道

     

對于顆粒計數器來說，通道數越多，意味著其在特定測量量程內劃分的區域越多。AccuSizer 780 顆粒計數器系列的儀器對于0.5μm - 400.0μm的測量范圍按照指數等級劃分有512個通道，意味著其在粒徑越小處劃分的范圍越細，例：1.586μm-1.675μm。這樣做的優點是顯而易見的，一方面儀器實現了計數的精準性，將測量的結果作細致的分析，而不是將結果作大致的分類。另一方面，對于測量復雜體系和多組分的樣品，數據能很好的體現在結果圖譜及數據中。

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圖1多通道的優勢

如上四張圖是同樣一個樣本在使用不同通道的時候的表現，明顯可以看出，使用8、16、32個通道的時候，僅僅能判斷顆粒度在一個范圍內，不能明確到底多大。而換用512高通道后，粒徑大小的辨析度明顯增加，對于峰值的判斷更加清晰明了。

 

 

高分辨率

      高通道的優勢換來的是高分辨率的優勢。所謂分辨率，在這里指的是分辨同一體系內不同粒徑大小的能力。得益于超前的設計理念和軟硬件組合，AccuSizer 780系列儀器除了能夠呈現完全不同于經典光散射的顆粒計數分布外，相對于經典的電阻法和光阻法，具有更高的分辨率和精準性。它不會錯過任何“尾部” 大顆粒，而這些“尾部”大顆粒往往是決定產品好壞的標準。

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圖2 AccuSizer 780 高分辨率展示

      如圖2所示，同一個樣本中混合0.7μm，0.8μm，1.3μm，2μm，5μm，10μm，15μm，20μm，50μm，100μm，200μm 11種標準PSL粒子，AccuSizer 780可以很容易將每種不同大小的標粒區分清楚。

 

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圖3 SPOS VS Laser diffraction

      圖3展示了同一個樣本在SPOS技術和激光衍射法（Laser diffraction，LD）粒度儀中測得的結果。樣本使用的是過400目篩(37μm）的樣本。SPOS技術（綠色線）顯示在35μm以上是沒有粒子的，這和實際情況相符。但是使用LD檢測得到的僅僅是“相似”的分布，但是在100μm本來沒有顆粒的情況下卻給出了還有大量大顆粒的假性結果。

US 21CFR Part 11法規軟件——符合cGMP要求

      AccuSizer 780 A7000 APS不溶性微粒檢測儀全系配備了符合美國聯邦法規21章第11款（21 CFR PART11）要求的軟件。具有數據自動備份，審計追蹤，權限分級，電子簽名，可連接Lims系統等多項功能。

      中國食品藥品監督管理局（NMPA）有政策趨勢將對醫藥研發企業實施規范的GLP 管理。使用符合21 CFR PART 11法規的軟件更能符合現在GLP/GMP的要求。

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該公司產品分類： 均質器 、均質機、乳化機 顆粒計數器 Zeta電位儀/微電泳儀 激光粒度儀、納米粒度儀 雜質粒度儀 AccuSizer 全自動計數粒徑檢測儀 在線計數粒徑檢測儀 online 系列 單顆粒光學傳感技術儀器 研磨液檢測儀 脂肪乳檢測儀 磨料漿檢測儀 拋光液檢測儀 AccuSizer 780 APS 拋光液檢測儀 光阻法顆粒計數器 光阻法檢測儀 光阻法單顆粒分析儀 動態光散射粒度分析儀

14501-PHILIPS 14501 20V150W DDL光學燈杯

 【PHILIPS 14501 20V150W DDL光學燈杯】惠州同為電子是PHILIPS,德國歐司朗燈泡特種光源最具規模優秀進口供應商，常年提供荷蘭原裝進口PHILIPS燈泡，德國進口歐司朗燈泡，日本EYE燈泡，FUJI 燈泡，美國GE燈泡，燈杯，燈管.廣泛用于投影儀/舞臺/醫療/顯微鏡/各種檢查設備/戶外和室內照明。

詳情請來電洽談：童小姐 189 3358 1193

溝通熱線：2227601、2227602、2227603

【PHILIPS 14501 20V150W DDL光學燈杯應用于】

工業生產設備：貼片機、紅外拆焊機、機床局部照明、機器顯示屏等;工業檢測設備：如放大鏡、顯微鏡、投影儀(三豐投影儀\萬濠投影儀)、光學孔徑檢測儀、表面粗糙度檢測儀等;顯示設備：幻燈機、電影投影設備、微縮膠片閱讀器等;

PHILIPS 14501 20V150W DDL GX5.3燈杯

PHILIPS JCR 12V100W/H10 燈杯

PHILIPS 13629 21V150W EKE GX5.3燈杯

歐司朗 93638 EKE 150W21V GX5.3 燈杯

PHILIPS 6423 15V150W EFR GZ6.35燈杯

歐司朗 64627 12V100W GZ6.35 EFP燈杯

PHILIPS 6834 12V100W EFP GZ6.35燈杯

PHILIPS 13164 24V200W EJL GX5.3燈杯

歐司朗 64653 24V250W GX5.3 ELC燈杯

PHILIPS 13163 24V250W ELC GX5.3燈杯

歐司朗 64634 15V150W GZ6.35 EFR燈杯

 

【PHILIPS 14501 20V150W DDL光學燈杯特性】

 低壓鹵素燈不應該使調光范圍超過它們額定電壓的10%，因為超過的話會導致較少其壽命。

 這些燈也有所有鹵素燈相似的優點：可忽略光的衰減和高的效率（因此低的能量耗損）。 帶集成反射器的鹵素燈用于縮影膠片和單片縮影膠片投影儀中，這些燈的玻璃反射器有一個冷光束涂層，將光向前反射，能夠使75%產生的能量向后轉播，因此能減少照射到膠片上的熱量。

 

惠州同為電子有限公司 

行車路線: 廣東省 惠州市 惠城區 演達大道68號駿康園

詳情請看: Http://www.gdtowway.com

 

 

 

該公司產品分類： EYE HOSOBUCHI USHIO 特殊光源 FUJI PHILIPS OSRAM PE

光學平晶

 

光學平晶，由光學玻璃經精細研磨而成。具有兩個（或一個）光學測量平面的正圓柱形或長方形的量規。通過其產生的光波干涉條紋來檢測被測物體平面度和平行度的一種工具。
 
產品優勢                          
 ·與同類檢測工具比，廉價、、。
 
使用范圍                           
 ·用于檢定千分尺、杠桿千分尺、杠桿卡規和千分尺卡規等量具測量面的平面度及
兩相對測量的平行度。研合性和平面度
·用于測量高光潔表面的平面度及平行度誤差
 
產品標記                            
 ·平晶側面粘貼產品的序列編號，清晰美觀
 
分類                                                 
 ·主要分平面平晶、平行平晶兩種。平面平晶細分為單平面和雙平面兩種。
    平行平晶（單塊）     612101－－612102系列                          
 

品   名
直徑（mm）
厚度（mm）
產 品 編 號
高精度
φ30
12
612101
一般精度
φ30
12
612102

 
高精度平晶制造公差：平行度0.2μm，平面度0.1μm。
一般精度平晶制造公差：平行度0.4μm，平面度0.2μm。
 
平面平晶（單塊）     612103－－612110系列
 

品   名
直徑（mm）
厚度（mm）
產 品 編 號
單平面
φ45
15
612103
雙平面
φ45
15
612104
單平面
φ50
15或20
612105
雙平面
φ50
15或20
612106
單平面
φ60
20
612107
雙平面
φ60
20
612108
單平面
φ75
20
612109
雙平面
φ75
20
612110

平面度＜0.1μm
 
平行平晶（套裝，千分尺檢定專用）     612111－－612112系列
 

品   名
直徑（mm）
厚度（mm）
產品編號
4件套                                               0-25mm千分尺專用
φ30
12
612111
12.12
12.25
12.37
4件套                                               25-50mm千分尺專用
φ30
25
612112
25.12
25.25
25.37

平行平晶（套裝，千分尺檢定專用） special use for micrometers 612113－－612118系列
 

品   名
直徑（mm）
厚度（mm）
產品編號
4件套                                               50-75mm千分尺專用
φ30
50
612113
50.12
50.25
50.37
4件套                                               75-100mm千分尺專用
φ40
75
612114
75.12
75.25
75.37
4件套                                               0-25mm千分尺專用
φ30
15
612115
15.12
15.25
15.37
4件套                                               25-50mm千分尺專用
φ30
25
612116
27
27.16
27.33
4件套                                               50-75mm千分尺專用
φ30
50
612117
52
52.16
52.33
4件套                                               75-100mm千分尺專用
φ40
75
612118
77
77.16
77.33

 
內包裝                          
 ·精致木盒
 
外包裝                          
 ·紙箱，適合出口及遠洋運輸

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