技術參數:1.光學系統:帕邢-龍格結構,焦距400mm,波長范圍185-590nm, 光柵刻線數2400條/mm,高速數字讀出CCD檢測器,象素分辨率6pm,高穩定分光系統。2.光源:固態火花光源,固態振蕩器。3.高能預燃(HEPS)技術:計算機控制光源參數 ,頻率:100-400HZ,電壓:300-500V。4.氬氣沖洗火花臺:開放式火花臺設計,低氬氣消耗的噴射電極(Jet Stream),不同基體可快速更換激發臺板。 5.WASLAB軟件功能:校準和分析時的重現性檢查,校準或控樣的自動提示,分析結果超出曲線范圍的標識,自定義輸入樣品的標識碼,自由編輯牌號數據庫,牌號校驗功能,牌號標識功能,自動分析譜線識別,任意次數的結果平均,標準偏差(SD)及相對標準偏差(RSD),硬件故障自動診斷,光譜指紋譜圖信息,百分濃度,絕對強度,強度率輸出模式等。6.外觀尺寸及重量:高度:680mm;寬度:410mm;長度:640mm;重量:60公斤
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譜儀要求具有高的分辨率和信噪比、更好的強度準確性和波長準確性以及強的抗外界干擾性和優良的儀器穩定性,在儀器的軟件上,要求能夠進行導數、去卷積等復雜的數學計算,能夠計算光譜間相似度、模式識別分析、支持多元校正分析和用戶自建譜庫并進行檢索。
PANalytical是全球X射線衍射分析儀器和X射線熒光光譜分析儀器及 軟件的主要供應商,具有半個多世紀的行業經驗。分析儀器主要應用 于科學的研究和發展、工業過程控制以及半導體材料的物性測量領域 。其產品廣泛應用于鋼鐵材料檢測等領域。
◆ 波長范圍:380-780nm(標準),200-1100nm(特殊選項) ◆ 波長精度:±0.5nm◆ 色坐標準確度:±0.0015 , ±0.0005(標準A光源下)◆ 積分時間:0.1mS – 20S ◆ 雜散光:< 0.015%(600nm),<0.03%(435nm) ◆ 光度線性:±0.5% ◆ 相關色溫測量范圍:1000~100000k ◆ 相關色溫準確度:±0.3%(標準A光源下) ◆ 顯色指數測量誤差:±(0.3%±0.3)◆ 快速電掃描,無機械磨損,穩定性好◆ 以軟件為核心,便于升級換代,可滿足不同用戶的需求◆ 快捷方便的USB通訊接口,適用于各種PC電腦及WINDOWS操作系統◆ 中英文測試報告規范,合理,便于國際交流
原理簡述:
雜散光是所有光學儀器系統中固有的一種有害的非檢測光,對儀器的測量精度影響很大。對于光譜檢測儀器系統而言,雜散光的影響更加不可忽略。在光譜儀中,雜散光是形成系統背景光譜的主要原因,若背景光譜較強,則可能影響到微弱光信號的檢測,大大地降低系統的信噪比,同時會直接影響測量信號的準確度及單色性。 目前市場上大多數光譜儀制造商所提供的快速CCD光譜儀分光都采用平面光柵與多塊聚光鏡的組合,會產生極大的雜散光,對測量結果影響很大。創惠公司鑒于多年來,在高精度光譜儀領域研究和開發中積累的豐富經驗研發的新一代CMS-2S快速光譜分析儀,采用世界先進的全息凹面衍射光柵和東芝高性能的線性CCD陳列探測器。優化了高性能CCD與全息凹面平場衍射光柵的匹配設計,通過求解關于不同像差項的非線性方程組來達到消除具體像差、補償像面的目的,只需一個光學元件,很好的解決了大多數廠家對快速光譜儀測試過程中產生極大雜散光,使光學匹配更完美,系統所獲得的光譜更純,線性更好。 雜散光的控制遠遠達不到用全息凹面平場衍射光柵只需一個光學元件的超低效果。除了低雜散光,采用全息凹面平場衍射光柵對提高其熱穩定性也有很好的幫助。在很寬的溫度范圍內測量結果幾乎沒有波長漂移, 并且光譜譜峰有良好的保持效果。 CMS-2S快速光譜分析儀采用了目前國際先進的消光材料對光譜儀內部進行特殊消光處理,使整個系統的雜散光控制在0.015%以下,對提高色坐標的準確度起到了最關鍵的作用。
公司簡介: 深圳市瑞明設備有限公司專業從事于儀器的銷售、租賃、回收、維修。本著“誠信、高效、優質、廉價”的經營理念,以強大的庫存,雄厚的技術力量,為研發、生產、計量等單位現貨提供大量的二手電子測試儀器,節省成本40%-80%。公司歷年經久,并與北美、歐洲及亞太區的同行們建立了良好的合作伙伴關系,共創二手儀器之輝煌!經營種類有頻譜分析儀、網絡分析儀、無線電綜合測試儀、邏輯分析儀、阻抗分析儀、信號源及中、高檔示波器等。光通信儀器有誤碼儀、眼圖儀、光譜儀、光時域反射儀、可調諧激光源、光功率計、光衰減器等。品牌包括惠普(安捷倫)、泰克、安立、愛得萬、安騰、力科、馬可尼(IFR)、R&S等世界著名品牌;品種繁多,并可提供計量合格證書及壹年保修、終身維護的售后服務。儀器租賃是我公司開展的一項既經濟又享有更大彈性空間的全面一站式服務.無合約及時間限制(需多少租多少,用多久算多久),租期越長,優惠越多,滿足短期或應急之需;亦可先租后買,交付及時,免費保養,是減輕投資、降低風險的最佳選擇。開放電子實驗室是為滿足廣大中小型企業及高科技創業人士對電子、通信、微波、光纖通信等中高檔儀器的使用需求而設立。無押金,無風險,按需配備儀器,酌情收取場租及使用費,將研發、測試費用降至最低。我公司大量回收閑置電子測試儀器,全部現款交易;對外承接高檔電子測試儀器的維修和校正。 光功計主機:Agilent HP 8153A 8163A 8164A 1830C 1835C 1936C 1918C 2936C等,光功率模塊:Agilent HP 81531A 81533B 81618A 81619A 1532A 81536A 81632A/B81633A 81634A 81635A等,光探頭:Agilent HP 81521A/B 81525A/B 81524A 81632A/B 81624A/B 81623A 81625A/B 81626A/B, 光源模塊:Agilent HP 81551SM 81552SM 81553SM 81554SM 81650A 81651A 81652A 81653A 81654A 81655A 81656A 81657A 81662A等,寬譜光源:Agilent HP83437A 83438A等,可調激光器:Agilent HP 8167B 8168E 8168F 81689A 81680A 81682A 81642A 81640A 81600A/BAQ4321A/D AQ4320A/D TSL-510等,光譜分析儀:Agilent HP 7004A+70950B 86142A/B 86140A/B 86141B 86142A 86142B 86143B 86145B 86146 BMS9710A/B/C MS9740A MS9780A AQ6315E AQ6317 AQ6317B/C AQ6370 BAQ6319 Q8331 Q8383 Q8384 Q8347 Q8344A等,回損儀 :Agilent HP RM3750B RX30701 RM3050 PS3650B ORL-55 IQ-3200 FOT-300 HP815 34A 81610A 81611A 81612A 81613A 81614A等,光波長計:Agilent HP 86120A 86120B 86120C WA-1100 WA-1500 WA1600 WA1650 WA-7600 FTB-5320 Q6140 TQ8325等,綜合測試儀:R&S CMU200 HP8960 5515B 5515C 8920B Anritsu MS8604A等,網絡分析儀:HP 8703A E5072C 8753ES 8753E 8753ET 8702D Agilent E5071B E835XA N338XA等,頻譜分析儀:HP856X系列 EHP859X系列 Agilent 4405B E4411B Anritsu MS2667C Advantest R3261A等,信號源:HP4421B 4432B R&S SME03 HP 8657A MSG 2580 MG 3633等,電橋:HP4285A 4286A 4284A 4263A/B 4287A Voltech AT3600等,其它:Agilent HP 86100A/B/C 86130A 37717A/B/C 37718A/B/C N4903A 86105A/B/C 86103A 86116C 54754A 86112A 86117A 86118A 86108A 83446A MP1632A/C 等。
6005P 專業型高精度元素光譜分析儀
臺灣一諾 ZPS-500KN 外接傳感器推拉力計 ZPS500KN ZPS-500KN 臺灣一諾外接傳感器推拉力計 HF-01 太原數顯推拉力計 HF01 HF-01 太原數顯推拉力計 HF-02 太原數顯推拉力計 HF02 HF-02 太原數顯推拉力計 HF-05 汕頭數顯推拉力計 HF05 HF-05 汕頭數顯推拉力計 HF-10 廈門數顯推拉力計 HF10 HF-10 廈門數顯推拉力計 HF-20 成都數顯推拉力計 HF-20 HF-20
LJ4A3-1-Z/BX LJ4A3-1-Z/AX LJ4A3-1-Z/BY LJ4A3-1-Z/AY LJ5A3-1-Z/BX LJ5A3-1-Z/AX LJ5A3-1-Z/BY LJ5A3-1-Z/AY LJ6A3-1-Z/BX LJ6A3-1-Z/AX LJ6A3-1-Z/BY LJ6A3-1-Z/AY LJ6A3-1-Z/EX LJ6A3-1-Z/DX LJ6A3-1-Z/EZ LJ6A3-1-Z/DZ LJ6A3-2-Z/BX LJ6A3-2-Z/AX LJ6A3-2-Z/BY LJ6A3-2-Z/AY LJ6A3-2-Z/EX LJ6A3-2-Z/DX LJ6A3-2-Z/EZ LJ6A3-2-Z/DZ LJ8A3-1-Z/BX LJ8A3-1-Z/AX LJ8A3-1-Z/BY LJ8A3-1-Z/AY LJ8A3-1-Z/EX LJ8A3-1-Z/DX LJ8A3-1-Z/EZ LJ8A3-1-Z/DZ
TAS7500系列是目前世界上最緊湊的,多用途太赫茲(THz)光譜成像檢測系統。可覆蓋0.1-4THz,光譜掃描速度可達8ms,光譜分辨率7.5GHz。
特點:
※ 三種不同的測量模式,透射、反射、衰減全反射,使用戶可以根據自身的應用選擇最適合的光譜分析方法;
※ 可對薄片材料進行無損的成像和分析;
※ 最快光譜掃描速度可達8ms,同時可保證出色重復性;
TAS7500SP太赫茲光譜分析系統 | TAS7500IM太赫茲成像系統 |
l 各種形態的晶體分析 l 液態物質分析 l 成分定量分析 l 對粉末、薄片近表面光譜分析 l 對薄片多孔性以及密度分析 | l 對樣品進行無損的斷層分析 l 可分析薄片的厚度和密度 l 可對多層結構進行分析 l 可對有涂層結構的樣品進行分析 l 可分析薄片樣品內部結構 |
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