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納米顆粒結構測定小角X射線衍射儀價格

詳情

小角X射線散射技術是一種非接觸式的精確測量技術,僅僅需要少許的樣品的制備,既可以用于科學研究,也可以用于工業質量控制。廣泛用于到應用各種膠體,金屬水泥,粘土,聚合物,塑料,蛋白質,制藥等領域。小角X射線散射技術 (Small Angle X-ray Scattering, SAXS) 用于納米顆粒結構的測定 (大小,形態和分布),考慮到銅的輻射,一般我們說,衍射角小于5度,2 theta,樣品可以是固體或液體。詳情瀏覽:http://www.felles.cn/中國領先的進口精密儀器旗艦型服務供應商!上海 天津,深圳 武漢 西安 成都

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小角X射線散射儀 小角+廣角X射線散射系統 散射結果

為了響應客戶的在紋理樣品或小角散射測量的需求,我們特意研發了一種小角X射線散射系統 (SAXS/WAXS)的儀器,這小角X射線衍射儀套具有強大的可伸縮性:樣品與探測的距離可調可變,樣品周圍的空間足夠大,可以安裝溫度室,旋轉臺等多種樣品架,滿足多種測量任務的需求。小角X射線散射儀 ,小角X射線衍射儀,小角X射線散射系統組成:X射線源,光學系統,探測器孚光精儀,中國領先進口儀器服務供應商,了解更多,詳情瀏覽網頁:www.felles.cn/輔光儀器:http://www.f-lab.cn/生命科學儀器:http://www.f-lab.cn/life-sciences.html分析儀器:http://www.f-lab.cn/analytical-instruments.html測試測量儀器:http://www.f-lab.cn/testing-instruments.html實驗通用儀器:http://www.f-lab.cn/lab-instruments.html材料加工設備:http://www.f-lab.cn/material-processing.html光學精密儀器:http://www.f-lab.cn/laser-optics.html測試儀表儀器:http://www.f-lab.cn/meters.html

該公司產品分類: 成像光譜儀 X射線衍射儀 激光晶體和器件 翹曲度形貌儀

XRD-Terra便攜式X射線衍射儀

 便攜式X射線衍射儀XRD(X ray Diffraction)是晶體物質結構分析的基本和必備手段,自然界中的晶體物質都具有自己特定的且唯一的結構,我們俗稱晶體的指紋譜;XRD使用X射線照射晶體物質,在滿足布拉格定律的情況下,射線和特定的晶體結構會產生特定的明暗相間的環-德拜環,通過探測器接收德拜環則可以表征出晶體物質的結構信息,從而進行晶體物質的物相、結構、結晶度、晶粒度等方面的分析

產品簡介:奧林巴斯NDT便攜式XRD 

功能特點:

1、 分析對象:固體粉體

2、 功能:晶體結構、物相定性定量、結晶度、晶粒度等

3、 特點:全球首款且唯一一款便攜式XRD

  全球體積及質量最小的XRD

  全球首款無測角儀的XRD。

  樣品制備無需壓片制片

  無需冷卻水,無需專業實驗室,保養成本極低

 

該公司產品分類: 表面微區分析 應力分析 缺陷分析 形貌分析 結構分析 成分分析 元素分析

Y-2000丹東X射線衍射儀

丹東X射線衍射儀

絕大部分固態物質都是晶體或準晶體,它們能夠對X射線產生各具特征的衍射。所謂衍射,即入射到物體的一小部分射線出射時方向被改變了但是波長仍保持不變的現象。用適當的方法把這些衍射線記錄下來就得到花樣各異的X射線衍射圖譜。

 

 樣品及樣品位置取向的調整機構系統 樣品須是單晶、粉末、多晶或微晶的固體塊。

 

丹東X射線衍射儀應用

在產品檢驗、原材料的質量標準或生產過程的中間控制分析中

在耐火材料廠定量測定耐火硅磚里鱗石英、方石英和殘余石英(它們的化學式都是SiO2)的含量

球狀氫氧化鎳是生產鎳鎘電池的原料氫氧化鎳101衍射峰的半高寬

在鈦廠,鈦的XRD分析是例行分析

鋼鐵材料中殘余奧氏體的測定

道路或工程基礎施工、地質勘探、石油找油打井都需要對地質巖心進行分析

  翡翠、田黃的鑒定X射線衍射儀方法是權威的方法

應用軟件  

 

 ·操作功能:

  衍射峰測量,重疊掃描,凈強度測量,定時計數,定數計時,測角儀轉動,測角儀步進和步退,測角儀調整,2θ校準,管電流、管電壓光閘控制。

·數據分析處理功能:

 (1)平滑;扣除背底;Kα2剝離;尋峰(標D值,標2θ值,標d、2θ強度、半高寬,顯示全部參數等多種衍射峰表示方法);改變采樣步長;去除雜? 峰、干擾峰;d值、 峰位修正;

 (2)求積分面積、積分寬度、半高寬;譜圖對比、圖譜加減、譜圖合并;在譜圖任意位置插入文字;兩種游標方式(小游標、大游標);多種縮放功能;多種坐標方式(線性坐標、對數坐標、平方坐標)。

 (3)峰形放大:譜圖的任一范圍,通過鼠標的左右鍵對譜圖進行任意倍數的廣大和縮小。

·定性分析:

  可以進行自動檢索和手工檢索,自動檢索結果包括:卡片號、分子式、匹配指數、可靠性因子、K值。可以進行半定量分析及K值法定量分析。

·定量分析:

  標準添加法、內標法、N組分吸收系數相同、兩組分吸收系數不同。

·分峰法結晶度計算:

  分峰過程可以通過鼠標直觀地改變子峰的各個參數,可以直觀地看到擬合譜與實測譜的差別。

·晶胞參數精修。

· 指標化。

·衍射數據校準: 使用標準衍射數據卡片(1-54組),對測量的原始數據進行偏差校正,消除儀器測量誤差。

該公司產品分類: 機械故障檢測儀 涂裝檢測設備 聯軸器對中儀 激光測平儀 數顯氣動量儀

AOD-I型超聲光柵衍射儀

 

AOD-I型超聲光柵衍射儀
眾所周知,超聲波是一種縱向機械應力波(彈性波),在液體中傳播時其聲壓將使液體分子密度產生周期性的變化,形成疏密波,促使液體的折射率也相應作周期性的變化。當有單色平行光沿垂直于超聲波傳播方向通過這疏密相間的液體時,由于光速遠大于液體中的聲速,可以認為在光波通過的時間內,液體中的疏密及其折射率的周期性變化情況沒有明顯改變,即液體在空間上的分布可看作是穩定的。這時,因折射率的周期變化將使光波通過液體后在原先的波陣面上產生了相應的周期性變化的相位差,從而改變了出射光的傳播特征,使光產生衍射,這一作用等效于一個相位光柵,稱為“超聲光柵”。由超聲駐波形成的相位光柵是固定在空間的,在超聲波頻率較低、且介質寬度又較小的情況下,當單色平行光沿垂直于超聲波傳播方向通過介質時,其現象與平行光通過透射光柵的情形相似,超聲駐波的波長λs相當于光柵常數。光通過時,將產生明顯的多級衍射(喇曼—奈斯聲光衍射),且各級衍射的極大值都對稱分布于零級條紋的兩側,其強度依次遞減。
換能器和液槽,高頻發生器諧振頻率8-10MHz,四位數碼管顯示,聲功率>1W.用于高校物理實驗,研究聲光衍射現象.可見衍射光譜±5級以上。
該公司產品分類: 分光光度計 演示物理 近代物理 基礎物理 流體力學,熱工學

XRD-7000S/L型X射線衍射儀

→X射線發生部 2KW或3KW(CPU控制)→測角儀 q~q,qs~qd聯動,qs或qd獨立→動作范圍 qs:-6°~82°,qd:-6°~132°→選配件 大型R-q樣品臺,多毛細管

DX系列X射線衍射儀

DX系列X射線衍射儀設計精密,硬件、軟件功能齊全,能靈活地適用于物質微觀結構的各種測試、分析和研究。根據實際任務的需要,可以安裝各種特殊功能的附件及相應控制和計算軟件,組成具有特殊功能的衍射儀系統。
 

  ●硬件系統和軟件系統的結合,滿足不同應用領域學者、科研者的需要;

  ●高精度的衍射角度測量系統,獲取更的測量結果;

  ●高穩定性的X射線發生器控制系統,得到更穩定的重復測量精度;

  ●程序化操作、一體化結構設計,操作簡便、儀器外型更美觀。

 
  技術參數    
 
 
  可對單晶、多晶和非晶樣品進行結構分析,如物相定性和定量分析(RIR定量、內部標準法、外部標準法、標準添加法),衍射譜圖指標化及點陣參數測定,晶粒尺寸及點陣畸變測定,衍射圖譜擬合修正晶體結構(WPF),殘余應力測定,織構分析(ODF表示立體極圖),結晶度、薄膜測定。
 
  衍射數據處理軟件    
  對衍射數據進行常規處理:自動尋峰、手動尋峰、積分強度、Kα1、α2剝離、背景扣除、平滑、峰形放大、多重繪圖、3D繪圖、已知晶體理論結構,模擬出XRD衍射譜圖等;
 

  擬合、多重峰分離

 
 
 
  通過 Pseudo-Voigt函數或是利用Pearson-VII函數對重疊峰擬合分解,確定單一衍射峰的參數,同時計算結晶度、晶粒尺寸、二類應力等。
 
 

  定性、定量分析:

 
 
 
  定性、定量分析確定樣品物相組成后,使用Rietveld方法,計算出各種物相含量的百分比(無標標定量分析)。
 
 

  Rietveld晶體結構精修(WPF)

 
 
 
  全譜擬合定性分析、精確定量分析峰形分析研究晶體雜質、位錯、晶界、點陣畸變等微觀結構。
 
 

  繪圖、打印輸出

 
 
 
  數據處理軟件與Windows相連接,對將要輸出的圖譜可以使用標注、放大、縮小等功能進行版面設計,也可以使用Windows操作進行剪切、粘貼。
 
 
  集成測量附件(選件)    
 
  廣角測角儀一般是針對粉末樣品、塊狀樣品定性和定量分析而設計的。但隨著材料研究的深入,越來越多的板材、塊狀材料及基體上的膜也要求用X射線衍射分析,集成測量附件就是為了滿足這些需要而設計的。在廣角測角儀上安裝集成測量附件可以進行織構、應力、薄膜、定量分析等測試,每一種測試功能都有相應的計算軟件。
 
 
 

  應用領域:

  ●碾軋板(鋁板、鐵板、銅板等)織構測量及評價(極圖、反極圖、ODF計算)   ●大分子化合物取向測量   ●陶瓷樣品取向測量   ●薄膜樣品晶體優先方位的評價   ●金屬材料、陶瓷材料的殘余應力測量(切削、敲擊等加工產生 的應力)   ●金屬材料上的氧化膜、氮化膜等殘余應力測量,進行耐磨性、 切削性評價   ●多層膜材料的殘余應力測量   ●金屬、非金屬基體上的多層膜、氧化膜、氮化膜分析   ●金屬、非金屬表面的電鍍材料分析   ●有擇優取向的粉末、大分子材料的定性、定量分析

  特點:

  ●極圖測試裝置(有反射法、透射法、γ擺動)   ●應力測量附件(有側傾法、并傾法)   ●薄膜測量、Phi 掃描(樣品表面旋轉)   ●最大可測量樣品尺寸:φ35X8mm   ●樣品前后自動調整最小距為:5μm   ●附件有定位結構與廣角測角儀安裝、柝卸十分方便   ●DX系統軟件自動控制各個方向動作,可以更好的進行粉末樣品測試

 

  技術參數:

 
 
 

  α軸轉動范圍:-45°~90° 最小轉動步距0.001°/步

  β軸轉動范圍:360°     最小轉動步距0.005°/步

  γ軸轉動范圍:±8mm     水平45°方向擺動

  Z軸轉動范圍:10mm      最小移動步距0.005mm/步

  集成測量附件配置有高分辯率平行光光學系統,克服了聚集光學系統的缺點。平行光光學系統可以解決測量角度誤差、衍射峰不對稱、分辯率低等問題。尤其適用于材料殘余應力、有機材料、薄膜、鍍膜等樣品分析。

 
 
 
  織構使多晶材料呈現各向異性,利用織構改善和提高材料的性能、充分發揮材料性能潛力是材料科學研究重要的工作之一。雖然檢測材料織構的方法很多,但是最廣泛應用的還是X射線衍射技術。

集成測量附件應用于退火鋁的織構測試。分別測量出111、200、220三張極圖,使用計算軟件繪制的反極圖和立體極圖(ODF圖)
 
 
  集成測量附件應用于鋼的殘余應力測試,Psi角膜式,-45°~90°范圍內取點對稱測量2θ角峰位,計算正向、反向測試應力值,取平均值為應力測量結果。

 

 
  纖維樣品測量裝置(選件)    
 
  纖維樣品測量附件安裝在廣角測角儀上。安裝纖維樣品或將纖維樣品安裝后拉伸,用透射法或是反射法測試晶體結構或是晶體結構的變化,適用于木材、纖維等樣品的纖維組織測量。
 
 
  樣品旋轉(薄膜測量)附件(選件)  
 
  使用聚焦光學系統一般無法測量薄膜樣品,但采用平行光光學系統和樣品旋轉附件、將θ軸固定、低角度入射、使用平晶單色器反射、保持樣品內旋轉的方法,除掉來自基體的強X射線,可以率地探測到薄膜衍射線。
 
 
 
  衍射儀通用附件(選件)  
 
 
     
單色器: 提高衍射峰與背景比例及對微相分析能力   DCX-6換樣器: 編程控制,一次安裝多個樣品,順序進行測試,保存測量結果,提高儀器的運行效率。
 
     
陶瓷體X射線管 功率:2kW 焦點:1X10mm 標準結構、適用國內外X射線儀   制樣器: 用于粉體衍射樣品制作
 
  Dwlc-2循環水冷卻裝置  
 

  該裝置主要用于顯微鏡、電子探針、能譜儀、衍射儀、熒光光譜儀等實驗室設備所需要的恒溫水源。它運用壓縮機制冷原理,采用封閉內循環水循環,自動控制制冷系統工作,對儀器需要冷卻部件進行熱交換,使儀器在溫度下穩定工作。

技術參數

  • 使用蒸餾水,對X射線管或需要冷卻的部件進行冷卻;
  • 分體式結構(冷凝器安裝在室外),減少室內噪音;
  • 任意設定循環水工作溫度(0-50°C);
  • 溫度控制精度:設定溫度±1°C;
  • 水流量:16L/min、24L/min;
  • 出水口壓力:2.5kg/平方厘米、3.5kg/平方厘米、4.0kg/平方厘米;
  • 儲水量:大于70L或按要求提供;
  • 工作電壓:220V或380V;
  • 工作方式:本機開、關或遙控方式選擇;
  • 有水流量檢測、制冷劑壓力檢測及各種保護。
 
 
 
 

注:

實驗室面積標注的尺寸僅供參考

 ● 單相電源220V×30A 2組 

 ● 接地線電阻不得大于4Ω

該公司產品分類: 拉力試驗機 EVA交聯度測試儀

齊全X射線衍射儀

產品名稱: X射線衍射儀(XRD)
產品類別: 分析儀器產品 → X射線衍射儀
產品編號: 32114594316
產品信息:
 
 
產品名稱: 殘余應力和奧氏體X射線衍射儀
產品類別: 分析儀器產品 → X射線衍射儀
產品編號: 32114314316
產品信息:
 
 
產品名稱: 高分辨率X射線衍射儀
產品類別: 分析儀器產品 → X射線衍射儀
產品編號: 32114263316
產品信息:
 
 
產品名稱: 多功能X射線衍射儀
產品類別: 分析儀器產品 → X射線衍射儀
產品編號: 32114234416
產品信息:
 

【光電測量產品】

 光源  真空紫外光譜儀  訂制光譜儀  軟X射線光譜儀  拉曼光譜儀  紅外\\紫外激光觀察儀  夜視儀器  HPLC熒光光度計  CCD相機  動態光散射  高速攝影照相機  光纖光譜儀  海洋系列光譜儀  光譜系統  原子力顯微鏡  探測器  濾光片  紅外光譜儀  單色儀  光柵  照度計  光信號電子學儀器  工業內窺鏡  薄膜測量  PC示波器  數字記錄儀  遠紅外太赫茲光譜儀  太陽光模擬器  袖珍數碼顯微鏡相機  壓電陶瓷  紫外線固化機  紫外反射鏡  濾光片測量儀  電動位移臺/電控位移臺  納米位移臺  光電探測器  均勻光源

【激光系列產品】

 光纖激光器  多模泵浦激光器  激光二極管未封裝bar  激光二極管冷卻裝置  激光器電源  氦氖激光器  CO2激光器  半導體泵浦激光器  氬離子激光器  氦鎘激光器  氮分子激光器  皮秒激光器  激光二極管電源  激光光譜測量  激光能量計/功率計  激光雕刻、打標、切割機  激光二極管模塊  深紫外、紫外固體激光器  信號發生器  超快飛秒激光器  熱電制冷產品  激光光束定位系統  激光光束分析儀  視頻顯微鏡測量系統  激光準直器  多通道激光功率計  半導體激光器  激光測距儀  紅外激光顯示卡  調Q激光器  激光護目鏡  光學平臺  光學調整架  光學微調架  可調嵌入式光學調整架  傾斜位移臺  通用調整臺  光學延遲線  手動位移臺  XY位移臺  光學旋轉臺  角位移調整臺  激光器附件  可變光闌  擴束鏡  拉曼激光器  大功率光纖耦合激光器

【分析儀器產品】

 電化學檢測儀器  電泳系列儀器  分光光度計  色度計  濁度計  注射泵  紫外臺  凝膠成像系統  分析儀  ICP電感耦合  氣相色譜儀  HPLC液相色譜  紅外光譜儀  電子鼻  傳感器  蒸發儀  凱氏定氮儀  熔點儀  干燥儀  熒光光度計  火焰光度計  熱分析儀  溶出度儀  X射線衍射儀  進樣器  X射線熒光光譜儀  全自動儀器  三維表面輪廓儀

【生化儀器產品】

 恒溫孵育器  核酸蛋白分析儀  搖床  真空泵  槍頭、PCR附件  柱溫箱  冰箱  移液槍  低溫培養箱  生物芯片掃讀儀  工作臺  葉綠素效能熒光儀  動物注射泵  恒溫水浴  振蕩器  離心機

【元件耗材】

 窗片  棱鏡  透鏡  激光棒  晶體  反射鏡  分光鏡  偏光鏡/偏光片  光學基片

【光通信儀器】

 ASE光源  光接收機  光纖放大器  光發射機  光通信激光器  探測器

X'Pert Pro系列多功能X射線衍射儀(XRD)

   X’Pert Pro是帕納科公司(前飛利浦公司分析儀器部)于本世紀推出的新一代X射線衍射儀,其主要特點是多功能、模塊化,即光學預校準的模塊化設計,使各個功能模塊能夠任由用戶隨意更換,并且在幾分鐘內即可構造成一種功能化的光路布局,從而使多功能應用終于能夠在一臺儀器上實現,如常規相分析聚焦光路模式、平行光路模式、微區測量模式等。儀器還可以進行小角散射納米粒度測定、應力測定、織構測定等。1  儀器基本系統上的新技術     1.1 陶瓷X光管     帕納科公司(前飛利浦公司分析儀器部)專利設計的新型陶瓷X光管,可使用戶在如下三個方面得到最大的收益:      (1) 重量輕:可在θ-θ型測角儀上得到過去只有在θ-2θ測角儀上才得到的精度。 這樣可使用戶在高精度的θ-θ 型測角儀上從事松散裝填樣品,液晶樣品,液-固相變和高溫樣品的測試(而此類樣品若在θ-2θ測角儀上是無法完成的)。         (2) 壽命長:采用專利設計的較以往的X光管可使工作溫度降低,延長X光管的使用壽命。     (3) 光學定位:由于陶瓷可精確機加工,因而飛利浦可以使其陶瓷X光管通過精機加工進行光學定位,這也是預校正光路的模.塊化得以實現的前提。(此項技術為飛利浦公司獨有專利技術)    1.2   DOPS(直接光學定位系統)     采用此項技術,可使測角儀定位精度提高一個數量級,并可克服以往步進馬達和齒輪轉動技術因齒輪磨損而造成測角儀的角度誤差,可測角儀在多年使用后仍保持的角度測量。    2.    全球最快的聚焦光路探測器:X’Celerator超能探測器     X’Celerator新型超能探測器能夠在不降低分辨率的前提下使每秒計數率提高100倍,因此靈敏度得到大大提高,甚至于在18kW高功率的儀器上錄不到的譜峰都可在此探測器下得到很強的信號。從另外一個方面說,在得到相同的譜圖質量的前提下,可減少錄譜時間100倍,對完成動態反應和相變實驗極為有利。X’Celerator 超能探測器亦采用 帕納科公司獨有的 PreFIX 預校準模塊化設計,能方便地與其他光學模塊或探測器進行互換。 3.    獨創的FPX模塊……即預校準光路的模塊技術     3.1  所有光學模塊在出廠前均經過光學預校準,在用戶現場安裝或更換光學模塊時,操作方便,無需校準光路,整個過程可在兩分鐘內完成。     3.2  入射光路,接收光路和樣品臺均采用模塊化設計, 可進行快速更換, 更換時間不超過5分鐘。     3.3  因此在多用途的X衍射研究工作中,唯有X’PertPro可以將X衍射的所有功能,例如:聚集光路,平行光路,不同樣品臺,正比計數管和PSD等以最快的速度(不超過10分鐘)更換且不用重調光路,最大限度地發揮了各種功能的作用,大大提高了研究工作的效率,而且由于預校準光路,功能更換后立即可進行測試,并且一種模塊被再次換上后能測試數據重合。     3.4    儀器出廠后十年內發展的新光學技術都制成與之配套的模塊,  為儀器的可持續發展提供了一個良好的平臺。 4.    新型光學模塊     由于采用了Mirror、 Hybrid,、Lens等新型光學模塊,提高了光的利用效率  ( 例如平行光路提高30-50倍)。 在不增加光管功率的前提下,大大提高了強度,可使用戶在低消耗、率下完成許多困難樣品的測試。 

XRD-Terra便攜式X射線衍射儀 北京便攜式X射線衍射儀

【簡單介紹】

Terra性能及規格。作為X射線衍射儀(XRD)家族中一款顛覆性的產品,與傳統臺式XRD相比較,Innov-x Terra具有以下優勢?、便攜式機體:485 x 392 x 192 mm 重量: 14.5 kg (含4節電池),適合野外現場作業,占地小,購置及維護成本低。

【詳細說明】

XRD-Terra是專為美國宇航局(NASA)開發研制的一款便攜式、自動化X射線衍射(XRD), 用于火星土壤樣本和礦石樣本的探測分析,以確定火星的地質形成過程,并對支持微生物 存在的有機化合物和環境條件進行分析。曾先后搭載“勇氣號”和“機遇號”,成功地完成了對火星地質的考察。XRD-Terra是全球首款真正意義上的便攜式分析儀,美國NASA專利-7113265。視頻地址:   

§ 具有以下拘束創新• 透射衍射幾何技術。• 樣品振動技術。• 二維面探測器,2D-XRD技術。• XRD與XRF集成技術。• 電子制冷技術。• XRD-Terra突破了傳統構成。

§ Terra 具有以下使用特點• 便攜式:機體:485 x 392 x 192 mm 重量:14.5 kg ;儀器自帶電池系統,可實現野外現場檢測分析;全球首款真正意義上的便攜式XRD。• 用簡單 ,無需專業人員操作。• 檢測快速,3分鐘即可完成樣品測試。• 維護成本低廉,無需水循環冷卻系統和恒溫環境,無需專業實驗室,無耗材配件。• 微量化樣品需求,15mg左右,尤其適合樣品量少或樣品珍貴的檢測,如考古、刑偵、管道腐蝕物分析等。

• 環境適應能力強,可防潮、防塵、防震。    

§ Terra應用領域Innov-x Terra作為一款航天軍用X射線衍射儀(XRD),被廣泛地使用于地質礦產、石油化工、醫藥、材料、水泥、刑偵、環境、考古、海關等領域,主要為晶體物質提供物相分析、晶體結構分析、晶胞參數分析、應力分析等。    

§ Terra性能及規格。

作為X射線衍射儀(XRD)家族中一款顛覆性的產品,與傳統臺式XRD相比較,Innov-x Terra具有以下優勢•、便攜式機體:485 x 392 x 192 mm 重量: 14.5 kg (含4節電池),適合野外現場作業,占地小,購置及維護成本低。• 自動化使用樣品振動裝置,省去傳統臺式機測角儀,樣品制備更簡單,測試無需轉動測角儀等機械部件,使用簡單,無需專業人員操作,自動化程度更高。。• 集成性使用透射幾何衍射技術及高靈敏度CCD探測器,同步進行XRD及XRF檢測,提供檢測物質結構信息和元素成分信息。。• 微量化檢測檢測樣品只需15mg,尤其適合刑偵、環境、炸藥、管道腐蝕等難于收集樣品的檢測分析。• 無線傳輸采用WIFI無線連接,可遠程操控及傳輸采集的數據,實現數據采集的現場性和數據處理的及時性。   

該公司產品分類: 其他 光電子科技產品 金屬探測器 勞保產品 工具 地質儀器 其它 物位計 液位計 流量儀表 轉速表 內窺鏡 檢測儀/校準儀 汽車檢測及外圍產品 多功能測試儀 驗電器 天平 鉗形表 示波器 電纜故障測試儀

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