ENJ2005-C晶體管圖示儀
系統特征:
● IV曲線顯示/局部放大
● 程序保護最大電流/電壓,以防損壞
● 品種繁多的曲線
● 可編程的數據點對應
● 增加線性或對數
● 可編程延遲時間可減少器件發熱
● 保存和重新導入入口程序
● 保存和導入之前捕獲圖象
● 曲線數據直接導入到EXCEL
● 曲線程序和數據自動存入EXCEL
● 測試范圍廣(19大類、27分類)
曲線測試:
ID vs. VDS at range of VGS
ID vs. VGS at fixed VDS
IS vs. VSD
RDS vs. VGS at fixed ID
RDS vs. ID at several VGS
IDSS vs. VDS / HFE vs. IC
BVCE(O,S,R,V) vs. IC
BVEBO vs. IE
BVCBO vs. IC
VCE(SAT) vs. IC
VBE(SAT) vs. IC
VBE(ON) vs. IC (use VBE test)
VCE(SAT) vs. IB at a range of ICVF vs. IF
測試參數:
漏電參數:IR、 ICBO、 LCEO/S/X、IDSS/X、 IDOFF、 IDRM、 IRRM、ICOFF、IDGO、ICES、IGESF、IGESR、IEBO、IGSSF、IGSSR、IGSS、IGKO、 IR(OPTO)
擊穿參數:BVCEO、BVCES(300μS Pulse above 10mA)BVDSS、 VD、BVCBO、 VDRM、 VRRM、 VBB、BVR 、VD+、VD-、BVDGO、BVZ、BVEBO、BVGSS、 BVGKO
增益參數:hFE、CTR、gFS
導通參數:VCESAT、VBESAT、VBEON、 VF、VT、VT+、VT-、 VON、VDSON、VDON、VGSON、VF(Opto-Diode)VGSTH、VTM、VGETH、VSD、IDON、VSAT、IDON、VO(Regulator)、Notch = IGT1、IGT4、ICON、VGEON、、IIN(Regulator)
關斷參數:VGSOFF
觸發參數:IGT、VGT
保持參數:IH、IH+、IH-
鎖定參數:IL、IL+、IL-
混合參數:rDSON、gFS、Input Regulation、Output Regulation
間接參數:IL
配置規格:
配置 | 規格/環境 | ||
主極電壓 | 1mV-2000V | 尺 寸 | 450×570×280(mm) |
電壓分辨率 | 1mV | 質 量 | 35kg |
主極電流 | 0.1nA-50A | 工作電壓 | 200V-240V |
擴展電流 | 100A | 電源頻率 | 47Hz-63Hz |
電流分辨率 | 0.1nA | 工作溫度 | 25℃-40℃ |
測試精度 | 0.2%+2LSB | 通信接口 | RS232 USB |
測試速度 | 0.5mS/參數 | 系統功耗 | <150w |
測試范圍:
01 | 二極管 / DIODE |
02 | 晶體管 / NPN型/PNP型 |
03 | J型場效應管 / J-FET |
04 | MOS場效應管 / MOS-FET |
05 | 雙向可控硅 / TRIAC |
06 | 可控硅 / SCR |
07 | 絕緣柵雙極大功率晶體管 / IGBT |
08 | 硅觸發可控硅 / STS |
09 | 達林頓陣列 / DARLINTON |
10 | 光電耦合 / OPTO-COUPLER |
11 | 繼電器 / RELAY |
12 | 穩壓、齊納二極管 / ZENER |
13 | 三端穩壓器 / REGULATOR |
14 | 光電開關 / OPTO-SWITCH |
......其它器件共19大類27分類 |
價格掃頻圖示儀L0045305
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價格掃頻圖示儀L0045305 參數:
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價格掃頻圖示儀L0045305 概述:
頻率范圍: 415~515kHz,10.2~11.2MHz,0.1~3MHz, 1.5~30MHz,63~110MHz輸出幅度: 100dBµ(.01Vrms)50Ω掃頻方式: 寬帶、窄帶頻標值: 在每個頻段內任意預置頻率可變范圍: 掃頻范圍內任意5個頻率點步進頻率: 0.1kHz,1kHz,10kHz頻標顯示: 增光式5點頻標同時顯示垂直頻響: DC~10kHz輸入阻抗: 約100kΩ標準電壓: 0.1Vp-p尺寸: 寬(W)240×高(H)320×深(D)320mm重量: 10.5kg
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XJ-4810型半導體特性圖示儀,是一種用示波管顯示半導體器件的各種特性曲線,并可測量其靜態參數的測試儀器。
本儀器與其他半導體管特性圖示儀相比,具有以下特點:
1 本儀器采用全晶體管化電路、體積小、重量輕、攜帶方便。
2 增設集電極雙向掃描電路及裝置,能同時觀察二極管的正反向輸出特性曲線、簡化測試手續。
3 配有雙簇曲線顯示電路,對于中小功率晶體管各種參數的配對,尤為方便。
4 本儀器專為工作于小電流超b晶體管測試作了提高,最小階梯電流可達0.2μA/級
5 本儀器還專為測試二極管的反向漏電流采取了適當措施,使測試的IR達20nA/div。
6 本儀器配上它的擴展裝置—XJ27100場效應管配對測試臺可對國內外各種場效應對管和單管進行比較測試。
7 本儀器配上它的擴展裝置—XJ27101數字集成電路電壓傳輸特性測試臺,可測試CMOS,TTL數字集成電路的電壓傳輸特性。
XJ4810型半導體管特性圖示儀,功能操作方便,它對于從事半導體管機理的研究及半導體在無線電領域的應用,是一個必不可少的測試工具。
主要技術指標
2.1 Y軸偏轉因數
集電極電流范圍(Ic)10μA/div-0.5A/div 分15檔,誤差不超過±3%。
二極管反向漏電流(IR)0.2μA/div-5μA/div 分5檔。
2μA/div-5μA/div 誤差不超過±3%。
0.2μA/div、0.5μA/div、1μA/div 誤差分別不超過±20%、±10、±5%
基極電流或基極源電壓 0.05V/div 誤差不超過±3%。
外接輸入 0.05V/div 誤差不超過±3%。
偏轉倍率 ×0.1 誤差不超過±(10%+10nA)。
2.2 X軸偏轉因數
集電極電壓范圍 0.05V/div—50V/div 分10檔 誤差不超過±3%
基極電壓范圍 0.05V/div—1V/div 分5檔 誤差不超過±3%。
基極電流或基極源電壓 0.05V/div 誤差不超過±3%。
外接輸入 0.05V/div 誤差不超過±3%。
2.3階梯信號
階梯電流范圍: 0.2μA/級-50mA/級 分17檔
1μA/級-50mA/級 誤差不超過±5%。
0.2μA/級、0.5μA/級 誤差不超過±7%。
階梯電壓范圍: 0.05V/級-1V/級 分5檔 誤差不超過±5%。
串聯電阻: 0、10KW、1MW 分3檔 誤差不超過±5%
每簇級數; 1—10連續可調
每秒級數: 200
極性: 正、負 分2檔
2.4 集電極掃描信號
峰值電壓與峰值電流容量:各檔級電壓連續可調,其最大輸出不低于下表要求(AC例外)
檔級 198V 220V 242V
0—10V 檔 5A
0—50V 檔1A
0—100V 檔 0.5A
0—500V 檔 0.1A
功耗限制電阻0—0.5MW分11檔,誤差不超過±10%
項目 | YB4813 |
集電極電流范圍 | 50μA/div~2A/div,分15檔,誤差不超過±3% |
二極管反向漏電流 | 0.5μA/div~20A/div,分6檔 |
集電極電壓范圍 | 0.05V~500V/div,分10檔,誤差不超過±3% |
基極電壓范圍 | 0.05V/div~2V/div,分6檔,誤差不超過±3% |
階梯電流范圍 | 0.5μA/級~200mA/級,分18檔差不超過±5% |
階梯電壓范圍 | 0.1V/級~2V/級,分5檔 差不超過±3% |
外形尺寸及質量 | 340H×250W×420(mm) 約18kg |
HZ4838 晶體管特性圖示儀
晶體管特性圖示儀是一種用示波管顯示半導體器件的各種特性曲線,并可測量其靜態參數的測試儀器。它功能強,操作方便,對于從事半導體管機理的研究及半導體在無線電領域的應用,是必不可少的測試工具。