光學(xué)測量儀產(chǎn)品及廠家
測量投影儀是一種光、機(jī)、電一體化的精密高效光學(xué)計(jì)量儀器。測量投影儀被廣泛應(yīng)用于機(jī)械、儀表、鐘表、電子、電纜、橡膠、彈簧五金、建材、輕工等各行各業(yè)以及院校、研究所、計(jì)量檢定部門的計(jì)量室、試驗(yàn)室和生產(chǎn)車間。測量投影儀高效率地檢測各種形狀復(fù)雜工件的輪廓尺寸和表面形狀。
更新時(shí)間:2025-04-22
遠(yuǎn)程led傳輸光測量范圍從3到16mm適用于車間使用光學(xué)螺紋測試儀也適用于長工件的測量電機(jī)驅(qū)動(dòng)旋轉(zhuǎn)工作臺(tái)帶遠(yuǎn)心光學(xué)的500萬像素?cái)z像機(jī)cord8win軟件提供所屬螺紋標(biāo)準(zhǔn)的參考值模擬和數(shù)字顯示測量值存儲(chǔ)測量值實(shí)時(shí)顯示
更新時(shí)間:2025-04-22
光學(xué)螺紋測試儀測量范圍從3到16mm適用于車間使也適用于長工件的測電機(jī)驅(qū)動(dòng)旋轉(zhuǎn)工作臺(tái)帶遠(yuǎn)心光學(xué)的500萬像素?cái)z像機(jī)cord8win軟件提供所屬螺紋標(biāo)準(zhǔn)的參考值模擬和數(shù)字顯示測量值存儲(chǔ)測量值實(shí)時(shí)顯示
更新時(shí)間:2025-04-22
光學(xué)螺紋測試儀ⅱ 基于宏編輯測試參數(shù)允許快速簡單的準(zhǔn)備試驗(yàn)方案。cordinspect2既可用于實(shí)驗(yàn)室也可直接用在工廠車間。除此之外，可自動(dòng)程序轉(zhuǎn)換。cordinspect2對于緊固件生產(chǎn)商和車削螺紋工件是非常有意義的。由于其靈活性強(qiáng)，便于大小批量生產(chǎn)商和進(jìn)料檢測使用對于兼顧測量的生產(chǎn)（檢測、系列檢測和終零件檢測），cordinspect2減少了非生產(chǎn)的時(shí)間
更新時(shí)間:2025-04-22
單手操作，多種功能：testo 470轉(zhuǎn)速表可用于測量電，轉(zhuǎn)軸，風(fēng)扇等的轉(zhuǎn)速。不僅如此還可用于測量速度和長度(例如傳送帶和轉(zhuǎn)子)簡便的單手操作測量轉(zhuǎn)速 (rpm) ，速度和長度保存平均值/大值/小值/后一次讀數(shù)包含實(shí)用附件，反射貼，保護(hù)軟套和儀器箱
更新時(shí)間:2025-04-22
用于非接觸式轉(zhuǎn)速測量：testo 460便攜式光學(xué)轉(zhuǎn)速測量儀標(biāo)配自粘式反射貼，led測量點(diǎn)標(biāo)示以及各種品質(zhì)附件光學(xué)rpm測量帶led測量點(diǎn)標(biāo)示帶背光清晰顯示屏，適用于各種照明條件標(biāo)配多種附件，包括反射貼，保護(hù)帽及手帶
更新時(shí)間:2025-04-22
布魯克bruker白光干涉光學(xué)輪廓儀 contour x, 滿足微納米表面測量需要
更新時(shí)間:2025-04-22
布魯克bruker contourx-200 三維光學(xué)輪廓儀，靈活的臺(tái)式表面形貌測量設(shè)備
更新時(shí)間:2025-04-22
布魯克 dektakxt 臺(tái)階儀（探針式表面輪廓儀）設(shè)計(jì)創(chuàng)新，實(shí)現(xiàn)了更高的重復(fù)性和分辨率，垂直高度重復(fù)性高達(dá) 5å。第十代 dektakxt臺(tái)階儀（探針式表面輪廓儀）的技術(shù)突破，實(shí)現(xiàn)了納米尺度的表面輪廓測量，從而可以廣泛的應(yīng)用于微電子器件，半導(dǎo)體，電池，高亮度發(fā)光二管的研發(fā)以及材料科學(xué)域。
更新時(shí)間:2025-04-22
美國泰克tek keithley半導(dǎo)體參數(shù)分析儀4200a-scs ，加快半導(dǎo)體設(shè)備、材料和工藝開發(fā)的探索、可靠性和故障分析研究。 業(yè)內(nèi)領(lǐng)先性能參數(shù)分析儀，提供同步電流-電壓 (i-v)、電容-電壓 (c-v) 和超快脈沖 i-v 測量。
更新時(shí)間:2025-04-22
瑞士nanosurf 原子力顯微鏡coreafm ，非常智能地聯(lián)合了原子力顯微鏡的核心部件來實(shí)現(xiàn)最多功能化與用戶方便使用性. 正是由于這種基礎(chǔ)的設(shè)計(jì), coreafm非常合理的實(shí)現(xiàn)了最優(yōu)化的原子力顯微鏡的功能.
更新時(shí)間:2025-04-22
韓國ecopia霍爾效應(yīng)測量系統(tǒng)hms3000，hms5000，用于研究半導(dǎo)體材料/光電材料的電學(xué)特性，可以測量材料在不同溫度、磁場下的載流子濃度、遷移率、電阻率、霍爾系數(shù)及載流子類型。
更新時(shí)間:2025-04-22
美國 mmr 霍爾效應(yīng)測量系統(tǒng) h5000，用于研究光電材料的電學(xué)特性，利用范德堡測量技術(shù)測量材料在不同溫度、磁場下的載流子濃度、遷移率、電阻率、霍爾系數(shù)及載流子類型。整套系統(tǒng)主要包括控制器、樣品室、磁場三部分。
更新時(shí)間:2025-04-22
半導(dǎo)體測試探針臺(tái)kup007，emp100c，emp100b，emp50s
更新時(shí)間:2025-04-22
德國mecwins 掃描式激光分析儀scala，它是用激光入射掃描樣品表面，收集反射信號(hào)得到樣品表面的三維形貌和特征。
更新時(shí)間:2025-04-22
美國nanovea三維表面形貌儀hs1000型，是一款高速的三維形貌儀，最高掃描速度可達(dá)1m/s,采用國際領(lǐng)先的白光共聚焦技術(shù)，可實(shí)現(xiàn)對材料表面從納米到毫米量級的粗糙度測試，具有測量精度高，速度快，重復(fù)性好的優(yōu)點(diǎn)，該儀器可用于測量大尺寸樣品或質(zhì)檢現(xiàn)場使用。
更新時(shí)間:2025-04-22
德國 yxlon 高分辨率ｘ射線檢測設(shè)備 y.cougar smt 平板探測器（標(biāo)配） y.cheetah 高速平板探測器（標(biāo)配）
更新時(shí)間:2025-04-22
美國royec芯片拾取及放置系統(tǒng)die pick & place systems,new !! ap+ 全自動(dòng)芯片分選系統(tǒng)
更新時(shí)間:2025-04-22
美國royec半自動(dòng)型芯片拾取系統(tǒng)de35-st ,最小200微米芯片拾取,可選配背面，側(cè)面檢測,可選配芯片轉(zhuǎn)向功能.
更新時(shí)間:2025-04-22
美國rti自動(dòng)特性圖示儀 mt century curve tracer，是一個(gè)性價(jià)比較高的曲線追蹤設(shè)備。最多到96個(gè)channel，提供4種型號(hào)可供客戶選擇，mt century curve tracer 與rti其他大型curve trace擁有一樣的可靠性，功率和軟件。像其他rti機(jī)型一樣，mt century系統(tǒng)的設(shè)計(jì)有與950系列的測試夾具及其它專用夾具連接的接口。
更新時(shí)間:2025-04-22
德國klocke nanotech納米級三維測量儀3d nanofinger，是一種實(shí)用的納米精度坐標(biāo)和形貌綜合測量設(shè)備。由臺(tái)架、控制系統(tǒng)、探頭、針尖組成. 可測量樣品外形尺寸，表面輪廓、粗糙度等，并可與超精密微加工、微組裝系統(tǒng)組合，進(jìn)行在線檢測、質(zhì)量控制等。
更新時(shí)間:2025-04-22
日本a&d粒子計(jì)數(shù)器（粒度計(jì)）sv-1a,是使用點(diǎn)監(jiān)測的低成本替代設(shè)備,計(jì)數(shù)值高達(dá)2,000,000個(gè)粒子/ft.
更新時(shí)間:2025-04-22
美國filmetrics 薄膜厚度測量系統(tǒng)f20，f30，f40，f50，f60，f3-xxt 系列，臺(tái)式薄膜厚度測量系統(tǒng)
更新時(shí)間:2025-04-22
美國 sonix 超聲波掃描顯微鏡:echo-vs, echo pro™全自動(dòng)超聲波掃瞄顯微鏡,sonix echo vs™ 是專為更高精度要求，更復(fù)雜元器件設(shè)計(jì)的新一代設(shè)備。echo pro™全自動(dòng)超聲波掃瞄顯微鏡,編程自動(dòng)判別缺陷,高產(chǎn)量,無需人員重復(fù)設(shè)置.
更新時(shí)間:2025-04-22
德國bruker傅氏轉(zhuǎn)換紅外光譜儀ftir -利用紅外線光譜經(jīng)傅利葉轉(zhuǎn)換進(jìn)而分析雜質(zhì)濃度的光譜分析儀器。
更新時(shí)間:2025-04-22
德國bruker ft-nir光譜儀tango,mpa,matrix-i.ft-nir光譜儀已經(jīng)在包括制藥，食品，農(nóng)業(yè)和化學(xué)行業(yè)在內(nèi)的所有行業(yè)的質(zhì)量控制應(yīng)用中得到了很好的應(yīng)用。它為耗時(shí)的濕法化學(xué)方法和色譜技術(shù)提供了一種實(shí)用的替代方法。ft-nir無破壞性，不需要樣品制備或危險(xiǎn)化學(xué)品，使其定量和定性分析快速可靠。
更新時(shí)間:2025-04-22
德bruker光學(xué)輪廓儀contorugt-表面量測系統(tǒng)-供生產(chǎn)qc/qa及研發(fā)研用的非接解觸型光學(xué)輪廓儀
更新時(shí)間:2025-04-22
sentech ald實(shí)時(shí)監(jiān)測儀是一種新型的光學(xué)診斷工具，是心靈超高分辨率的單一ald循環(huán)。在不破壞真空的條件下分析薄膜特性(生長速率，厚度，折射率)，在短時(shí)間內(nèi)開發(fā)新工藝、實(shí)時(shí)研究ald循環(huán)中的反應(yīng)機(jī)理是sentech ald實(shí)時(shí)監(jiān)測儀的主要應(yīng)用。
更新時(shí)間:2025-04-22
美國ogp光學(xué)式坐標(biāo)測量儀 zip 250 ，5:1 accucentric 電動(dòng)變焦透鏡，在每次放大變倍時(shí)自動(dòng)校準(zhǔn)，可選配接觸式探頭、激光和微型探針。
更新時(shí)間:2025-04-22
jy—pha接觸角測定儀，用于液體對固體的浸潤性，通過測量液體對固體的接觸角、計(jì)算、測定液體對固體的附著力，張力及固體表面能等指標(biāo)。
更新時(shí)間:2025-04-22
100標(biāo)準(zhǔn)型接觸角測量儀，采用高性能日本原裝進(jìn)口工業(yè)機(jī)芯，工業(yè)級連續(xù)變倍顯微鏡，確保圖像的真實(shí)性，獲取最佳的成像效果。
更新時(shí)間:2025-04-22
美associated 耐壓測試儀hypotmax 7710 ，是一款12 kvdc hipot測試儀，用于為電纜、電線、線束和電氣元件測試提供高直流輸出電壓。該產(chǎn)品非常易于使用，并為安全有效的測試提供了各種特性。它有專利smartgfi®操作,它還包括電荷lo®和斜坡嗨®系統(tǒng)。最后，該系統(tǒng)具有遠(yuǎn)程安全聯(lián)鎖和數(shù)控電弧檢測系統(tǒng)。
更新時(shí)間:2025-04-22
montana 新型超精細(xì)多功能無液氦低溫光學(xué)恒溫器完全擺脫了液氦。完全閉循環(huán)的制冷系統(tǒng)只需要極少量的氦氣即可讓系統(tǒng)達(dá)到極限低溫。系統(tǒng)具有超快降溫、超低震動(dòng)和超高的溫度穩(wěn)定性。全自動(dòng)化的控制軟件，簡化了用戶的操作流程。
更新時(shí)間:2025-04-22
德國attocube磁共振顯微鏡/低溫強(qiáng)磁場磁共振顯微鏡attocsfm,完美集成了由完全無磁性材料制備的高數(shù)值孔徑（na）共聚焦顯微鏡與原子力顯微鏡來滿足odmr實(shí)驗(yàn)的需求。
更新時(shí)間:2025-04-22
sinton少子壽命測試儀wct-120，suns-voc，硅片少子壽命測試系統(tǒng)，采用了獨(dú)特的測量和分析技術(shù)，包括準(zhǔn)穩(wěn)定態(tài)光電導(dǎo)(qsspc)測量方法。可靈敏地反映單、多晶硅片的重金屬污染及陷阱效應(yīng),表面復(fù)合效應(yīng)等缺陷情況。
更新時(shí)間:2025-04-22
日本rion液體光學(xué)顆粒度儀ks-41b，可檢測光阻產(chǎn)品、sog 等產(chǎn)品中 0.1um 的顆粒。
更新時(shí)間:2025-04-22
日本rion液體光學(xué)顆粒度儀ks-19f,寬廣的測試范圍，可測試 0.03~0.13um 之間的顆粒只需要小小的樣品取樣量就可以得到高效率高精準(zhǔn)的顆粒數(shù)據(jù)。
更新時(shí)間:2025-04-22
美az 總輻射度/太陽能吸收率(tesa)便攜式反射計(jì) tesa 2000，根據(jù)astm e408測定熱發(fā)射率和空氣質(zhì)量為零時(shí)的太陽吸收率(空間應(yīng)用)。它緊湊，輕巧，堅(jiān)固耐用，符合人體工程學(xué)設(shè)計(jì)，便于在野外或?qū)嶒?yàn)室中使用。
更新時(shí)間:2025-04-22
日本rion氣體粒子計(jì)數(shù)器：kl-28b/28bf( 光散射法）,粒徑范圍（2個(gè)通道）：≥0.2μm， ≥0.5μm, 大粒子數(shù)濃度：1 200 顆/l （誤差值低于5%）
更新時(shí)間:2025-04-22
日本rion 液體光學(xué)顆粒度儀：ks-16/16f ( 光散射法）, 大粒子數(shù)濃度：1 200 顆/l （誤差值低于5%）, 粒徑范圍（5個(gè)通道）：≥0.1μm， ≥0.15μm ， ≥0.2μm ， ≥0.3μm, ≥0.5μm
更新時(shí)間:2025-04-22
日本rion 液體光學(xué)顆粒度儀：ks-17b ( 光散射法）,純水用，大粒子數(shù)濃度：100 000 顆/ml （誤差值低于5%），粒徑范圍（2個(gè)通道）：≥0.05μm， ≥0.1μm （4通道需工廠定制）
更新時(shí)間:2025-04-22
日本理音rion液體光學(xué)顆粒度儀ks-19f，寬廣的測試范圍，可測試 0.03~0.13um 之間的顆粒只需要小小的樣品取樣量就可以得到高效率高精準(zhǔn)的顆粒數(shù)據(jù)。
更新時(shí)間:2025-04-22
日本rion粒子計(jì)數(shù)器kc-24 ( 光散射法）,液體粒子計(jì)數(shù)器，可檢測從純水到氫氟酸各種各樣的液體。可測 0.1um 空氣顆粒度儀kc-24
更新時(shí)間:2025-04-22
日本rion液體光學(xué)顆粒度儀ks-41a ( 光阻用），可檢測光阻產(chǎn)品、sog 等產(chǎn)品中 0.15um 的顆粒。粒徑范圍（4個(gè)通道，出廠默認(rèn)）：≥0.15μm， ≥0.2μm ， ≥0.3μm ， ≥0.5μm
更新時(shí)間:2025-04-22
日本rion 液體光學(xué)顆粒度儀：ks-18f ( 光散射法）液體光學(xué)顆粒度儀 ks-18f寬廣的測試范圍，可測試 0.05~0.2um 之間的顆粒只需要小小的樣品取樣量就可以得到高效率高精準(zhǔn)的顆粒數(shù)據(jù)。 可偵測到小粒徑 0.05um 的粒子
更新時(shí)間:2025-04-22
日本rion液體光學(xué)顆粒度儀ks-42a&42af ( 光散射法）,可測試 0.1~0.5um 之間的顆粒只需要小小的樣品取樣量就可以得到高效率高精準(zhǔn)的顆粒數(shù)據(jù)。
更新時(shí)間:2025-04-22
日本rion液體光學(xué)顆粒度儀ks-42b/42bf ( 光散射法）,寬廣的測試范圍，可測試 0.2~2.0um 之間的顆粒只需要小小的樣品取樣量就可以得到高效率高精準(zhǔn)的顆粒數(shù)據(jù)。
更新時(shí)間:2025-04-22
日本rion液體光學(xué)顆粒度儀ks-42c ( 光散射法）,寬廣的測試范圍，可測試 0.5~20um 之間的顆粒只需要小小的樣品取樣量就可以得到高效率高精準(zhǔn)的顆粒數(shù)據(jù)。
更新時(shí)間:2025-04-22
日本理音 rion 粒子計(jì)數(shù)器 ks-20f，檢測粒徑為0.02μm的顆粒，從0.02μm到0.08μm可達(dá)7個(gè)通道
更新時(shí)間:2025-04-22
日本rion粒子計(jì)數(shù)器kc-01e ( 光散射法）,液體粒子計(jì)數(shù)器，測試粒徑（5個(gè)通道）：≥0.3μm， ≥0.5μm ， ≥1μm ， ≥2μm， ≥5μm
更新時(shí)間:2025-04-22
最新產(chǎn)品
- TensorTip VSM無創(chuàng)多參數(shù)檢測儀 2025/4/22 13:16:24
- MIK1100簡易型單回路測量顯示控制儀 溫度/壓力/流量 2025/4/22 13:16:19
- 上海祥樹供應(yīng)GEMU備件 2025/4/22 13:16:08
- 上海祥樹供應(yīng)BERTHOLD備件 2025/4/22 13:15:33
- 高溫?zé)犭娕?/a> 2025/4/22 13:15:29
- CDMPT03-C慢病多參數(shù)檢測儀 2025/4/22 13:15:11
- 上海祥樹供應(yīng)HYDROBLOCK備件 2025/4/22 13:15:03
- 上海祥樹供應(yīng)HYDROBLOCK備件 2025/4/22 13:14:42
- MIK-2100增強(qiáng)型單回路數(shù)字顯示控制儀 溫度/壓力/電量 2025/4/22 13:14:37
- 上海祥樹供應(yīng)HYDROBLOCK備件 2025/4/22 13:14:23
- 上海祥樹供應(yīng)HYDROBLOCK備件 2025/4/22 13:14:07
- 上海祥樹供應(yīng)HYDROBLOCK備件 2025/4/22 13:13:52
- 排氣熱電偶 2025/4/22 13:13:48
- SW-3611男性生理多參數(shù)檢測儀 2025/4/22 13:13:48
- 上海祥樹供應(yīng)GSR備件 2025/4/22 13:13:29
- RX-6000F系列 1~36 路可選溫度巡檢儀/智能巡檢儀/多路巡檢報(bào)警 2025/4/22 13:13:23
- 上海祥樹供應(yīng)TRAFOMIC備件 2025/4/22 13:13:10
- 上海祥樹供應(yīng)PREVOST備件 2025/4/22 13:12:46
- SHEL-BE.LED內(nèi)置式超聲潔牙機(jī) 2025/4/22 13:12:40
- 上海祥樹供應(yīng)MURTFELDT備件 2025/4/22 13:12:23
- Electro Physik，Electro Physik膜厚儀 2025/4/22 13:12:10
- MIK-C703 4-20mA/0-10V電流電壓熱電偶信號(hào)發(fā)生器/信號(hào)校驗(yàn)儀 2025/4/22 13:12:06
- 上海祥樹供應(yīng)MADER備件 2025/4/22 13:11:40
- 上海祥樹供應(yīng)ROEMHELD備件 2025/4/22 13:11:23
- 上海祥樹供應(yīng)RITTAL備件 2025/4/22 13:11:00
- BONFIGLIOLI，BONFIGLIOLI齒輪減速電機(jī) 2025/4/22 13:10:44
- 上海祥樹供應(yīng)WIKA備件 2025/4/22 13:10:39
- 鎧裝熱電偶 2025/4/22 13:10:16
- 上海祥樹供應(yīng)MAPAL備件 2025/4/22 13:10:16
- 上海祥樹供應(yīng)buderus備件 2025/4/22 13:09:56