天瑞儀器鍍層測厚儀產品介紹
X射線熒光(XRF)鍍層測厚儀通過X射線熒光技術無損測量金屬鍍層/涂層的厚度,適用于電鍍、PCB、電子元器件等行業。 更多詳細X熒光膜厚測量儀器EDX-V
EDX-V是天瑞儀器集30多年X熒光膜厚測量技術研發的一款的從上至下照射X熒光的測試儀,適用于無損分析和測量極微小部件上鍍層的厚度。 更多詳細X熒光光譜電鍍層測厚儀器
產品說明、技術參數及配置儀器介紹Thick800A是天瑞集多年的經驗,專門研發用于鍍層行業的一款儀器,可全自動軟件操作,可多點測試,由軟件控制儀器的測試點,以及移動平臺。是一款功能強大的儀 更多詳細鍍層厚度檢測儀器X熒光光譜儀器
產品說明、技術參數及配置EDXThick800是一款上照式多功能自動微區X熒光膜厚測試儀,既滿足原有微小和復雜形態樣品的膜厚檢測功能,又可滿足有害元素檢測及輕元素成分分析;搭載自動化的X/Y/Z軸 更多詳細